Plateforme de test pour semi-conducteur J750Ex-HD

Plateforme de test pour semi-conducteur - J750Ex-HD - Teradyne
Plateforme de test pour semi-conducteur - J750Ex-HD - Teradyne
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Caractéristiques

Autres caractéristiques
pour semi-conducteur

Description

Le J750 de Teradyne est la norme industrielle pour le test à haut volume de dispositifs à faible coût et dispose d'une base installée de plus de 6 000 systèmes de test. - Plateforme de test à haut volume pour dispositifs sensibles au coût - Base installée de plus de 6 000 systèmes dans le monde - Conçu pour tester une large gamme de dispositifs semi-conducteurs - Prend en charge les exigences de test numériques, mixtes et analogiques - Architecture évolutive pour les besoins de test en évolution - Débit et fiabilité de pointe dans l'industrie Caractéristiques clés: - Capacité de test parallèle élevée - Options de configuration flexibles - Couverture de test complète pour divers types de dispositifs - Performance éprouvée dans les environnements de production Applications typiques: - Électronique grand public - Électronique automobile - Dispositifs industriels et IoT - CI de communication Spécifications techniques / Caractéristiques: - Plateforme: J750Ex-HD Family - Types de test: Numérique, Mixte, Analogique - Base installée: 6 000+ systèmes - Cible: Test de dispositifs à faible coût et à haut volume - Évolutivité: Modulaire, prend en charge les exigences évolutives
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.