Machine d'essai température HS-LDTS2000

de qualitéde performanceautomatique

HS-LDTS2000 est un testeur optoélectronique de performances pour puces LD conçu pour les environnements de production afin d'évaluer les diodes laser longue longueur d'onde sous des conditions contrôlées en température ambiante et en haute température. Il intègre la manutention automatisée et l'imagerie intelligente pour soutenir le contrôle qualité à haut débit.

Fonctions principales

• Flux de travail de manutention et de test automatisé
• Inspection d'aspect AOI et reconnaissance OCR des faces avant et des faces d'extrémité
• Capacité de test à haut débit

Domaines d'application

• Photonique
• Dispositifs de puissance
• Appareils RF micro-ondes
• Secteur des véhicules à nouvelle énergie

Avantages

• Plateau de contrôle de température développé en interne avec régulation de haute précision adapté aux tests en température ambiante et haute
• Système de vision haute précision avec fonction de recontrôle pour assurer la stabilité du produit
• Compatibilité des alimentations — prend en charge 2" GEL-PAK et bague de wafer 6"
• Table rotative avec postes de travail séparés et fonctionnement synchronisé pour améliorer le débit

Caractéristiques / Spécifications techniques

• Capacité de test : paramètres LIV et paramètres spectraux de l'éclairage avant et arrière des diodes laser longue longueur d'onde en conditions ambiantes et haute température
• Méthodes / processus de test : test des performances photoélectriques des puces LD (caractéristiques photoélectriques & mesure spectrale)
• Gamme de produits : puces LD
• Plage de taille des puces : minimum 0,15 x 0,2 mm ; maximum 10,0 x 10,0 mm
• Efficacité de l'équipement : environ 4,5–6 S/PCS (selon l'application de test spécifique)