Microscope pour analyse SAM 400 TWIN
pour la rechercheà haute vitesseacoustique à balayage

microscope pour analyse
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Caractéristiques

Applications
pour analyse, pour la recherche
Autres caractéristiques
à haute vitesse, acoustique à balayage, pour semi-conducteur

Description

Le JUMEAU du SAM 400 est un outil de haute performance permettant des investigations acoustiques non destructives pour l'analyse de sortie, le contrôle de qualité et les applications élevés de recherches. Elles comportent un nouveau scanner à grande vitesse de mouvement linéaire et de nouvelles technologies de rf et de transducteur de jusqu'à 400 mégahertz, commandés par une interface graphique conviviale. Un nouveau concept master/slave permet à des rangées de deux transducteurs d'acquérir des images acoustiques simultanées. Construit aux standards de l'industrie de semi-conducteur autour d'une plate-forme de noyau qui utilise la dernière technologie de production et de recherches, le BALAYAGE de JUMEAU de SAM peut exactement manipuler des gaufrettes jusqu'à 400 millimètres. Plage de fréquence d'ultrason jusqu'à 500 mégahertz avec le transducteur de 3 mégahertz - 400 mégahertz. Gamme de balayage : x=250 µm-430 millimètre, y=250 µm-430 millimètre, z=100mm Le foyer automatique est appliqué à chaque transducteur

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.