Profilomètre optique TopMap Micro.View
3Dinterférométriqueavec interférométrie en lumière blanche

Profilomètre optique - TopMap Micro.View - Polytec - 3D / interférométrique / avec interférométrie en lumière blanche
Profilomètre optique - TopMap Micro.View - Polytec - 3D / interférométrique / avec interférométrie en lumière blanche
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Caractéristiques

Technologie
optique, 3D, avec interférométrie en lumière blanche, interférométrique
Fonction
pour mesure de rugosité, pour mesure de planéité, de mesure de forme, de géométrie, de contour, pour l'analyse de couches minces, de surveillance de déformation
Applications
pour contrôle, pour ligne de production, pour semi-conducteur, pour pièces tournées, pour microlentille, pour profilés, pour disque de frein, pour grandes pièces, de solides
Domaine
industriel, de laboratoire
Configuration
de paillasse, compact, mobile
Autres caractéristiques
sans contact, non destructif, automatique

Description

Profileur optique compact pour les microstructures et la rugosité TopMap Micro.View® est le profilomètre de surface compact de la gamme TopMap d'interféromètres à lumière blanche. Il permet des inspections de surface répétables et à haute résolution des microstructures, de la texture, de la surface et des paramètres de rugosité surfacique (Sa, Sz, ...). Scannez vos surfaces rapidement et avec une résolution inférieure au nm ! Grâce à la technologie de balayage continu CST intégrée, la course de 100 mm dans l'axe Z offre une plage de mesure complète de 100 mm avec une résolution verticale de l'ordre du nanomètre. Ce profilomètre optique se caractérise par sa conception compacte avec électronique intégrée et impressionne par sa facilité d'utilisation - par exemple, grâce à la fonction automatique Focus Finder pour des mesures rapides et efficaces dans les environnements de production et les laboratoires d'essai. + Analyse topographique complète en surface et en 3D de la rugosité, des textures et des microstructures + Système de profilage compact pour l'analyse des détails de la surface Système de profilage compact pour l'analyse des détails de la surface + Large plage de mesure verticale de 100 mm avec la technologie de balayage continu CST + Excellente résolution latérale + Objectifs spécifiques à l'application + Mesure avec une résolution inférieure au nanomètre + NOUVEAU : options d'objectifs élargis 0,6X ... 111X désormais disponibles Contactez-nous pour des démonstrations, des études de faisabilité sur vos échantillons spécifiques et plus d'informations.

VIDÉO

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.