Système de mesure de surface optique TopMap Micro.View+

3Dinterférométriqueavec interférométrie en lumière blanche

PROFILOMÈTRE OPTIQUE MODULAIRE POUR LA RUGOSITÉ NM ET LES MICROSTRUCTURES TopMap Micro.View+ est la nouvelle génération de technologie de mesure de surface optique de Polytec. Sa conception modulaire permet différentes configurations, adaptées à vos tâches d'inspection de surface, qu'il s'agisse de texture, de microstructures, de forme ou de rugosité sur des pièces fabriquées avec précision ou des microsystèmes. Micro.View+ est conçu pour les laboratoires de mesure et de recherche, mais convient également aux applications en ligne en intégrant des capteurs purs. Visualisez votre topographie 3D et utilisez le mode couleur pour une visualisation et une différenciation plus significatives, par exemple des défauts de surface ou pour la documentation. Disponible en option avec un appareil photo de 5 MP. La gamme complète d'accessoires simplifie et accélère vos mesures. Tandis que le Focus Finder et l'innovant Focus Tracker maintiennent toujours les échantillons au point en toutes circonstances et pendant le repositionnement, la table de positionnement entièrement motorisée prend en charge l'assemblage et le test automatisés tout en ajustant automatiquement la pointe/l'inclinaison. + Interféromètre en lumière blanche de première classe avec une résolution inférieure au nm + Plage de mesure verticale de 100 mm avec la technologie de balayage continu CST + Le Focus Finder et le Focus Tracker sont idéaux pour le contrôle automatisé de la production. + Mode couleur pour l'analyse professionnelle et la documentation des défauts + Modulaire pour des configurations spécifiques