Vue d'ensembleSystème AOI 3D ultra‑précis conçu spécifiquement pour le packaging de semi‑conducteurs. Optimisé pour l'inspection à grande vitesse et haute résolution de surfaces brillantes et de matériaux variés, avec chargeur/déchargeur à magasin intégré.
Principales caractéristiques- AOI 3D ultra‑précis utilisant la méthode de balayage par ligne laser haute résolution
- Chargeur/déchargeur à magasin intégré pour une manutention rationalisée
- Acquisition et traitement extrêmement rapides pour un haut débit
- Performance d'inspection indépendante de la couleur, du matériau et de la rugosité de surface
- Inspection efficace des surfaces fortement spéculaires (réfléchissantes)
Éléments d'inspection- SiP (System-in-Package)
- Die attach
- Underfill
- Pâte et bump de soudure
- Clip cuivre sur die
- IGBT
- Autres composants de packaging de semi‑conducteurs
Positionnement produit / Famille- Fait partie de la gamme Xceed MICRO (Xceed MICRO │ AXION │ PRECION │ ARTION)
Caractéristiques techniques- Manufacturer: PARMI
- Model name: AXION
- Application: Inspection de packaging de semi‑conducteurs
- Mode d'imagerie: Balayage par ligne laser haute résolution
- Type de chargeur: Chargeur/déchargeur à magasin intégré
- Conçu pour: Inspection indépendante de la couleur, du matériau et de la rugosité ; optimisé pour les surfaces fortement spéculaires
- Éléments d'inspection pris en charge: SiP, die attach, underfill, pâte et bump de soudure, clip cuivre sur die, IGBT, etc.