automatisée, haute résolution, à grande vitesse, à cadence élevée
Description
Vue d'ensemble Système AOI 3D ultra‑précis conçu spécifiquement pour le packaging de semi‑conducteurs. Optimisé pour l'inspection à grande vitesse et haute résolution de surfaces brillantes et de matériaux variés, avec chargeur/déchargeur à magasin intégré.
Principales caractéristiques
AOI 3D ultra‑précis utilisant la méthode de balayage par ligne laser haute résolution
Chargeur/déchargeur à magasin intégré pour une manutention rationalisée
Acquisition et traitement extrêmement rapides pour un haut débit
Performance d'inspection indépendante de la couleur, du matériau et de la rugosité de surface
Inspection efficace des surfaces fortement spéculaires (réfléchissantes)
Éléments d'inspection
SiP (System-in-Package)
Die attach
Underfill
Pâte et bump de soudure
Clip cuivre sur die
IGBT
Autres composants de packaging de semi‑conducteurs
Positionnement produit / Famille
Fait partie de la gamme Xceed MICRO (Xceed MICRO │ AXION │ PRECION │ ARTION)
Caractéristiques techniques
Manufacturer: PARMI
Model name: AXION
Application: Inspection de packaging de semi‑conducteurs
Mode d'imagerie: Balayage par ligne laser haute résolution
Type de chargeur: Chargeur/déchargeur à magasin intégré
Conçu pour: Inspection indépendante de la couleur, du matériau et de la rugosité ; optimisé pour les surfaces fortement spéculaires
Éléments d'inspection pris en charge: SiP, die attach, underfill, pâte et bump de soudure, clip cuivre sur die, IGBT, etc.
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.
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