Système d'inspection à rayons X Quadra 5
à semi-conducteurautomatiséde mesure

système d'inspection à rayons X
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Caractéristiques

Technologie
à rayons X, à semi-conducteur
Mode de fonctionnement
automatisé
Type
de mesure, BGA
Applications
pour la production

Description

Voir les moindres détails Obtenez le maximum d'informations sur votre échantillon. La source de rayons X QuadraNT™ et le détecteur AspireFP™ sont conçus, fabriqués et intégrés en interne, spécifiquement pour Electronique et les échantillons de fabrication. Il est facile de trouver des défauts grâce à plus de 30 filtres d'amélioration d'image avancés qui créent des images Transparent faciles à interpréter. La simplicité comme standard Assurer la conformité de fabrication. Des outils automatisés intégrés pour l'analyse de la qualité BGA, le diamètre et la rondeur des bosses, le balayage de fil, la soudure et l'annulation QFN permettent de trouver rapidement les défauts, vous aidant à atteindre la conformité IPC-A-610 et IPC-7095. Minimisez le temps de formation de l'opérateur avec le logiciel de contrôle et de mesure propriétaire de Gensys. Toutes les fonctions clés sont à portée de clic de souris Sans entretien Minimisez temps d'arrêt. Le tube à rayons X QuadraNT ne nécessite aucun entretien régulier ni changement de filament. Répétabilité à vie en standard. Comme le filament n'est jamais changé, l'imagerie d'inspection est Transparent et reproductible, aujourd'hui, demain et année après année.

Catalogues

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.