Système d'inspection à rayons X MXI QUADRA™ 7 Pro

à semi-conducteurautomatiséde mesure

Les dispositifs série Quadra™ Pro permettent de créer des images ultra haute résolution d'une qualité exceptionnelle. Grâce au tube à rayons X Dual Mode NT4 ultra performant et au détecteur Onyx, tous deux conçus par nos soins, vous serez en mesure de voir les moindres détails et de détecter immédiatement tout défaut. Plus rien ne vous échappera. Le Quadra™ 7 Pro redéfinit la norme en matière d'inspection manuelle 3D ou 2D en proposant une résolution plus élevée pour les applications back-end liées aux semi-conducteurs. Grâce à son détecteur Onyx® révolutionnaire, vous bénéficierez d'une image d'une netteté exceptionnelle et avec moins de bruits. Cela vous permet de mener à bien vos tâches d'inspection avec précision et efficacité. Le Quadra 7 Pro est doté du tout dernier tube Dual Mode Quadra NT4® pour une flexibilité optimale. Cette innovation propose plusieurs modes de luminosité et de résolution entre lesquels vous pouvez basculer selon les exigences des diverses applications. Outre son matériel avancé, le Quadra 7 Pro dispose d'un nouveau logiciel Revalution™. Conçu spécifiquement pour les applications de semi-conducteurs haut de gamme, le logiciel Revalution™ propose une interface intuitive, un flux de travail optimisé et des fonctionnalités avancées afin d'améliorer l'expérience utilisateur. Les techniciens peuvent ainsi analyser et interpréter les données d'inspection afin de prendre des décisions plus rapidement, et donc être plus productifs. Les dispositifs série Quadra™ 7 Pro permettent de créer des images ultra haute résolution d'une qualité exceptionnelle. Grâce au tube à rayons X Dual Mode NT4 ultra performant et au détecteur,