Les testeurs M2 Dynamic Switch d'ipTEST offrent des capacités de test complètes pour les dispositifs de puissance à large bande passante à chaque étape de la fabrication. Ces testeurs avancés traitent une gamme de dispositifs, depuis les dispositifs GaN et Si de faible puissance jusqu'aux dispositifs et modules SiC de plus forte puissance utilisés dans les applications automobiles et de transmission d'énergie. Ils garantissent des vitesses de balayage rapides et des formes d'onde de test de haute qualité à amortissement critique en moins de 200 ms.
FLEXIBILITÉ DES TESTS
Testez tous les aspects de votre appareil, en laboratoire et sur la chaîne de production. Redéploiement facile entre plusieurs lignes de produits et étapes de fabrication
PERFORMANCE
Test de commutation dynamique haute performance pour toutes les applications jusqu'à 2000A.
SÉCURITÉ
Technologie de pointe de protection contre les surintensités (OCP) SocketSafe™, protège l'ensemble de la cellule de test lors d'événements de défaillance en moins de 300 ns
DS5-400 Solution de puissance moyenne pour les dispositifs GaN à vitesse de commutation élevée. Faible inductance parasite et capacités de test Rdson dynamique.
DS5 QUASAR Test complet de haute puissance pour les dispositifs Si, SiC et GaN. Réalise des tests de récupération de diode, de charge inductive bridée à impulsion simple et double, et de court-circuit, le tout sur une seule carte.
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