Appareil de test pour l'industrie automobile M2 DS6 Pulsar

de courantde performancede court-circuit

Testez les dispositifs à large bande passante tels que les MOSFET SiC, les JFET, les demi-ponts et les diodes conformément aux normes de qualité automobile telles que AEC-Q101 et AQG 324. Le DS6 Pulsar effectue des tests de commutation dynamiques à des courants élevés allant jusqu'à 7 500 A aux stades de la fabrication des KGD, des composants discrets et des modules. Les vitesses de commutation ultra rapides du DS6 Pulsar recréent les conditions de contrainte de courant élevé auxquelles les dispositifs sont soumis pendant le fonctionnement de l'automobile Une interface de gestion de dock dur assure des vitesses de balayage rapides, des formes d'ondes amorties de manière critique et une inductance de test parasite de 20-40 nH. La technologie SocketSafeTM protège la cellule de test en cas de défaillance catastrophique d'un dispositif pendant le test, ce qui est parfait pour les technologies d'alimentation à large bande interdite et vous permet d'expédier des produits conformes et de la plus haute qualité PERFORMANCE - REPOUSSER LES LIMITES DU TEST Test de court-circuit jusqu'à 7 500 A, spécialement conçu pour les applications automobiles, simulant des événements de stress réels tels que le " shoot-through ". L'interface de la station d'accueil permet de brancher le dispositif testé plus près de la station de test, minimisant ainsi l'inductance parasite. inductance parasite typique de 20-40 nH pour des vitesses de commutation ultra rapides avec un dépassement minimal. Cela améliore considérablement les temps de rampe de test sans risque de dépassement de tension dépassant les limites de l'appareil FLEXIBILITÉ DES TESTS Rentable et efficace, l'investissement dans le DS6 Pulsar permet d'effectuer une large gamme de tests sur une seule plate-forme matérielle. Le redéploiement vers d'autres manipulateurs et d'autres types d'objets sous test s'effectue facilement en changeant simplement la carte fille d'interface SÉCURITÉ La technologie de pointe SocketSafe™ de protection contre les surintensités (OCP), protège l'ensemble de la cellule de test lors d'événements de défaillance en moins de 300 ns