Chambre d'essai de rodage Hatina WLBIpour semi-conducteurpour le contrôle qualité
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Caractéristiques
- Type de tests
- de rodage
- Applications produits
- pour semi-conducteur
- Domaine d'application
- pour le contrôle qualité
- Longueur
560 mm
(22,05 in)- Largeur
560 mm
(22 in)- Profondeur
550 mm
(22 in)
Description
Solution pour le Burn-In au niveau du wafer pour les MOS de puissance
Points forts :
WLBI pour les technologies de puissance - Si, SiC, GaN
Compatible avec les wafers de 6, 8 et 12 pouces
Capable de brûler la totalité de la plaquette
Solution économique pour les tests de fiabilité et de cycle de vie
Exploite la technologie standard de prober des wafers
Caractéristiques principales :
Parallélisme : 160 sites à 1600 sites
Tension : jusqu'à 1,2 KV par site
Courant : 2mA par site
Configuration du test :
Test fonctionnel
HTGB
HTRB
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Catalogues
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.