Appareil de test de semi-conducteur HATINA 4S
d'isolementélectriquede capacité

Appareil de test de semi-conducteur - HATINA 4S - Microtest - d'isolement / électrique / de capacité
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Caractéristiques

Type de tests
de courant, de tension, résistance électrique, électrique, de qualité, de calibration, d'isolement, de capacité
Mode de fonctionnement
automatique
Produit testé
de semi-conducteur, pour circuits imprimés, pour composants électroniques, pour capteur magnétique, MEMS
Secteur
pour le contrôle qualité, pour l'industrie électronique
Technologie
numérique
Configuration
compact
Autres caractéristiques
de précision

Description

SOLUTION TRÈS COMPACTE POUR LE TEST DES DISPOSITIFS MEMS ATE flexible et peu coûteux, pour les marchés très parallèles et peu complexes tels que les MEMS, les circuits ouverts/courts et la logique grand public. Points forts : - V/I et DPS à nombre de broches élevé - Nombre élevé de broches numériques - Mux intégré pour une flexibilité extrême - Encombrement nul, faible coût par site - Intégration facile de l'automatisation Caractéristiques principales : - 2 sources DCS_1A (force et détection) multiplexées en 256 positions différentes par module - 12 canaux numériques multiplexés en 256 positions différentes par module - 20 canaux numériques directs par module Dimensions de l'appareil - Hauteur : 538 mm - Largeur : 360 mm - Profondeur : 330 mm

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