Interféromètre pour mesure de déplacement HORIZON
pour mesure de planéitépour mesure d'épaisseurnumérique

Interféromètre pour mesure de déplacement - HORIZON - MARPOSS - pour mesure de planéité / pour mesure d'épaisseur / numérique
Interféromètre pour mesure de déplacement - HORIZON - MARPOSS - pour mesure de planéité / pour mesure d'épaisseur / numérique
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Caractéristiques

Applications
pour mesure de planéité, pour mesure d'épaisseur, pour mesure de déplacement
Spécifications
de haute précision, haute résolution, numérique, multicanaux

Description

Présentation
HORIZON est le contrôleur interférométrique de nouvelle génération de Marposs, conçu pour la mesure de précision en milieu industriel. Il fournit une capacité de mesure nanométrique et des options d'intégration flexibles pour l'optimisation des processus, la réduction des rebuts et le renforcement du contrôle qualité.

Avantages clés
  • Optimisation des processus grâce à des boucles de rétroaction haute précision
  • Réduction des déchets et des retouches
  • Renforcement du contrôle qualité avec résolution nanométrique
  • Compatibilité capteur et interfaces flexible pour divers matériaux et géométries

Applications
  • Mesures de précision en production (semi-conducteurs, électronique 3C, composants pour véhicules électriques)
  • Contrôle en ligne et inspections en laboratoire
  • Mesure d'épaisseur et de surface sur matériaux réfléchissants ou transparents

Caractéristiques techniques
  • Type de produit : Contrôleur interférométrique de nouvelle génération
  • Modèle : HORIZON
  • Fabricant : Marposs
  • Technologie de mesure : Interférométrique avec résolution nanométrique
  • Compatibilité capteur : Large gamme de capteurs et longueurs d'onde
  • Codeurs : Prise en charge jusqu'à trois codeurs pour acquisition synchronisée multi‑points
  • Connectivité : Sorties analogiques, interfaces numériques avancées, compatible FieldBus ; USB pour collecte de données et mises à jour de firmware
  • Synchronisation : Réseau MASTER-SLAVE pour configurations de mesure complexes

Catalogues

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