Profilomètre avec interférométrie en lumière blanche MarSurf3D MS SX

3Dconfocalinterférométrique

Présentation
La MarSurf3D MS SX Platform est un système de métrologie 3D de surface multisensoriel, combinant tête de mesure confocale, interférométrie en lumière blanche et variation de focal en un seul appareil. La plateforme SX est optimisée pour les petites pièces avec des courses/axes jusqu'à 200 mm et permet des analyses de surface jusqu'à la gamme des nanomètres inférieurs.

Technologies combinées clés
Confocal: La technologie confocale multi-pinhole brevetée assure une capture d'image ultra-rapide avec une haute qualité de signal et une excellente répétabilité sur des surfaces lisses à rugueuses.

Interférométrie: L'interférométrie en lumière blanche offre une résolution verticale sub-nanométrique indépendante du grossissement — idéale pour les surfaces très lisses et la mesure ultra-précise des hauteurs de marche.

Variation de focal: La technique de variation de focal est conçue pour la mesure géométrique de grandes surfaces rugueuses. Elle enregistre des inclinaisons raides (jusqu'à ~86°) et offre une large plage de mesure verticale en un seul balayage.

Tâches de mesure typiques

• Mesures de rugosité (ISO 21920 / ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178)
• Mesures de topographie et analyse de volume (usure, tribologie)
• Mesure de contour et de forme (2D & 3D)
• Analyse de pores et de particules
• Détection de défauts
• Hauteurs de marche et micro-caractéristiques de surface jusqu'à la gamme des nanomètres inférieurs

Qualité maximale des données
Le système est conçu pour fournir une grande précision, exactitude, répétabilité et reproductibilité avec une documentation complète pour assurer traçabilité et auditabilité. Il fournit des valeurs de mesure quantitatives adaptées à l'ingénierie, la conception produit et procédé ainsi qu'au contrôle qualité.

Points forts produit

• Mesure correcte et reproductible : enregistrement fiable des données garantissant une haute précision des données brutes et des profils.
• Large gamme de pièces : mesure indépendante du matériau pour surfaces réfléchissantes, absorbantes, opaques ou transparentes.
• Utilisation intuitive : interface guidée avec modes automatiques et protocoles de mesure pour des workflows reproductibles.

Réf. / Identification
Numéro d'article : 6350029

Caractéristiques techniques

• Dénomination / famille de produit : MarSurf3D MS SX Platform
• Marque : Mahr
• Réf. article : 6350029
• Taille de pièce prévue : courses/axes jusqu'à 200 mm
• Technologies de mesure intégrées : Confocal (multi-pinhole), Interférométrie en lumière blanche, Variation de focal
• Résolution verticale : gamme sub-nanomètre (niveau interférométrie)
• Surfaces applicables : de très lisses (échelle nm) à très rugueuses ; enregistrement d'inclinaisons raides jusqu'à ~86° (variation de focal)
• Tâches typiques : rugosité (ISO 21920 / ISO 4287, ISO 13565 / ISO 25178), topographie, contour/forme 2D & 3D, analyse pores/particules, détection de défauts, mesure de hauteur de marche
• Interface utilisateur : modes automatiques guidés et prise en charge de protocoles de mesure pour une exploitation reproductible
• Cas d'utilisation : métrologie de surface 3D basée sur l'aire pour pièces petites à moyennes, inspection de laboratoire et production haute précision