Profilomètre 3D MarSurf3D MS GS
avec interférométrie en lumière blancheinterférométriqueconfocal

Profilomètre 3D - MarSurf3D MS GS - MAHR - avec interférométrie en lumière blanche / interférométrique / confocal
Profilomètre 3D - MarSurf3D MS GS - MAHR - avec interférométrie en lumière blanche / interférométrique / confocal
Ajouter à mes favoris
Ajouter au comparateur

Caractéristiques

Technologie
3D, avec interférométrie en lumière blanche, confocal
Fonction
pour mesure de rugosité de surface, de contour, pour mesure de rugosité, de géométrie
Applications
pour grandes pièces
Domaine
industriel
Autres caractéristiques
multi-capteur, en continu, à grande vitesse, automatique, sans contact

Description

Aperçu du produit
La MarSurf3D MS GS Platform permet la métrologie 3D de surface haute précision sur grandes pièces. Ce système multisenseur combine confocal, interférométrie à lumière blanche (WLI) et variation de focus dans une tête de mesure unique pour couvrir des surfaces lisses à très rugueuses et des inclinaisons fortes, avec une résolution verticale atteignant le niveau sub-nanomètre lorsque applicable. La plateforme GS est modulaire, conçue pour un débit élevé et un fonctionnement continu 24/7, avec options pour capteurs ponctuels supplémentaires.

Caractéristiques clés
  • Tête multisenseur intégrée : confocal, interférométrie à lumière blanche, variation de focus avec éclairage actif.
  • Couverture de surface polyvalente : des textures ultra-lisses aux surfaces très rugueuses et pentes marquées.
  • Grand domaine de mesure et conception de portique optimisée pour grandes pièces et flux automatisés.
  • Chaîne de mesure traçable : priorité à la précision, à la répétabilité, à la reproductibilité et à la documentation complète pour audit.

Technologies
  • Confocal : conception multi-pinhole brevetée pour une capture d'image ultra-rapide et une qualité de signal élevée assurant une excellente répétabilité jusqu'au domaine sub-nanomètre.
  • Interférométrie à lumière blanche : résolution verticale dans le domaine sub-nanomètre indépendante du grossissement ; idéale pour surfaces ultra-lisses et détermination précise des hauteurs de marche.
  • Variation de focus : éclairage actif et profondeur de champ étendue pour la mesure de géométrie des grandes surfaces rugueuses ; capable d'enregistrer des surfaces inclinées (jusqu'à ~86°) et de grands domaines verticaux en une seule mesure.

Tâches de mesure typiques
  • Mesures de rugosité selon ISO 21920 / ISO 4287 et ISO 13565 / ISO 25178.
  • Mesures de topographie et analyse de volume, études d'usure et de tribologie.
  • Mesures de contour et de forme en 2D et 3D.
  • Analyse de pores/particules, détection de défauts et inspection de surface.

Valeur produit
  • Résultats précis et reproductibles : données brutes fiables et précision des profils pour contrôle qualité et R&D.
  • Inspection automatisée haute résolution : acquisition rapide sur grandes surfaces pour augmenter le débit et la rentabilité.
  • Configuration flexible : composants modulaires et capteurs optionnels adaptés aux applications industrielles variées.

Caractéristiques techniques
  • Numéro d'article : 6350035
  • Marque : Mahr
  • Modèle : MarSurf3D MS GS Platform
  • Série : MarSurf3D MS series
  • Technologies multisenseurs : Confocal (multi-pinhole), Interférométrie à lumière blanche, Variation de focus avec éclairage actif
  • Points forts confocal : multi-pinhole breveté, capture ultra-rapide, répétabilité sub-nanomètre
  • Points forts interférométrie : résolution verticale dans le domaine sub-nanomètre ; adapté aux mesures de hauteur de marche ultra-précises
  • Points forts variation de focus : mesure des surfaces inclinées jusqu'à ~86° et grands domaines verticaux ; optimisé pour grandes surfaces rugueuses
  • Conçu pour grandes pièces, option capteurs ponctuels supplémentaires et fonctionnement continu 24/7
  • Normes applicables pour rugosité : ISO 21920, ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178
  • Applications typiques : rugosité, topographie (volume/usure/tribologie), contour/forme (2D & 3D), analyse pores/particules, détection de défauts

Catalogues

Aucun catalogue n’est disponible pour ce produit.

Voir tous les catalogues de MAHR

Salons

Rencontrez ce fournisseur au(x) salon(s) suivant(s)

IMTS 2026
IMTS 2026

14-19 sept. 2026 Chicago (USA - Illinois) Hall East Level 3 - Stand 134255

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.