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Système de préparation automatique UC Enuity
pour SEMTEMbenchtop

Système de préparation automatique - UC Enuity - Leica Microsystems GmbH - pour SEM / TEM / benchtop
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Caractéristiques

Mode d'utilisation
automatique
Applications
pour SEM, TEM
Configuration
benchtop

Description

Ultramicrotome de nouvelle génération pour la préparation de coupes semi-fines et ultra-fines, ainsi que de surfaces lisses requises pour les examens LM, TEM, SEM et AFM. Arc de segment et bloc de couteaux motorisés à la pointe de la technologie et fonctions de réglage automatisées. Interface utilisateur intuitive et configurable. Ultramicrotome entièrement évolutif pour s'adapter à vos besoins. Comprend la prise en main à distance.

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IMTS 2026
IMTS 2026

14-19 sept. 2026 Chicago (USA - Illinois) Hall East Level 3 - Stand 134266

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Préparation de l'échantillon pour la microscopie électronique

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