Le profileur de stylet Alpha-Step D-500 permet de mesurer en 2D la hauteur des marches, la rugosité, la courbure et la contrainte. La technologie innovante du capteur optique à levier offre des mesures à haute résolution, une grande plage verticale et une capacité de mesure de faible force.
L'un des avantages de la technique de mesure par stylet est qu'il s'agit d'une mesure directe, indépendante des propriétés du matériau. La force réglable et le choix du stylet permettent de mesurer avec précision une grande variété de structures et de matériaux. Cela permet de quantifier votre processus afin de déterminer la quantité de matériau ajoutée ou retirée, ainsi que tout changement de structure en mesurant la rugosité et la contrainte.
Image zoomée de la rugosité d'une cellule solaire
Caractéristiques
Hauteur de pas : Nanomètres à 1200µm
Faible force : 0,03 à 15 mg
Vidéo : caméra couleur haute résolution 5MP
Correction de la distorsion trapézoïdale : Supprime la distorsion due à l'optique latérale
Correction de l'arc : Supprime les erreurs dues au mouvement en arc du stylet
Taille compacte : L'encombrement le plus faible pour un profileur de stylet de paillasse
Logiciel : Interface logicielle conviviale
Graphique montrant les mesures de hauteur de pas
Applications
Hauteur de marche : hauteur de marche en 2D
Texture : rugosité et ondulation en 2D
Forme : arc et forme en 2D
Contrainte : contrainte de la couche mince en 2D
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