Système de préparation d'échantillons automatique ZoneTEM II

pour le laboratoirepour microscopie électroniquepour SEM

Les utilisateurs de SEM et STEM / TEM connaissent le problème : l'imagerie à haute résolution est souvent entravée (voire rendue complètement impossible) par l'accumulation rapide d'un film de carbone dans la zone d'observation. Ce phénomène est généralement causé par des hydrocarbures gazeux qui se déposent continuellement pendant l'observation en raison du transfert d'énergie du faisceau d'électrons. La source de ces hydrocarbures peut être un vide de chambre non optimal, qui peut généralement être amélioré avec des nettoyeurs de plasma à haute énergie ou, plus délicatement, avec la source de lumière excimère "Sparkle" d'Hitachi. Dans la plupart des cas, cependant, les objets d'observation et les porte-échantillons eux-mêmes sont la principale source de contamination. Dans ce cas, le traitement au plasma s'avère souvent trop brutal au point d'altérer, voire de détruire l'échantillon. Les nettoyeurs ZONE d'Hitachi pour SEM et TEM offrent une alternative douce et intelligente basée sur la lumière ultraviolette et les radicaux libres d'oxygène : élimination rapide et complète des hydrocarbures interférents avec une consommation d'énergie considérablement réduite par rapport aux nettoyeurs à plasma. Les nettoyeurs d'échantillons de la famille de produits ZONE sont équipés de lampes UV d'une longueur d'onde de 185 nm et 254 nm, qui attaquent les liaisons d'hydrocarbures typiques, brisent les molécules d'oxygène et génèrent des composants réactifs sous forme d'ozone. La pompe à membrane intégrée génère un vide modéré réglable entre 13 et 67 kPa. La pression de la chambre peut être utilisée pour optimiser le mécanisme de nettoyage entre plus oxydatif ou plus physique selon le type d'échantillon. Caractéristiques du produit : - Accès à 5 porte-échantillons TEM (configurable) - Fonction de nettoyage et de stockage - Mémoire de recettes