Détecteur silicon drift Vortex®

de rayons XnumériqueCMOS

Les détecteurs de rayons X à dérive au silicium Vortex présentent des surfaces actives comprises entre 30 mm2 et 80 mm2. Les détecteurs Vortex sont fabriqués à partir de silicium de grande pureté en utilisant une technologie de production CMOS de pointe. Ils se caractérisent par une excellente résolution en énergie (<130 eV FWHM à Mn Kα est typique) et un taux de comptage élevé. Avec un temps de pic très court de 0,1 µs, un taux de comptage de sortie de 900 kcps est atteint. Une caractéristique unique de ces détecteurs est leur capacité à traiter des taux de comptage élevés avec une très faible perte de résolution en énergie et un décalage minimal du pic avec le taux de comptage. - Spectroscopie de fluorescence X (XRF) en vrac et en micro-fluorescence - Micro XRF (d'autres tailles seront bientôt disponibles) - Diffraction des rayons X (XRD) - Émission de rayons X induite par des particules (PIXE) - Fluorescence des rayons X par réflexion totale (TXRF) - Applications du rayonnement synchrotron - Contrôle des processus Le Vortex fonctionne à une température proche de la température ambiante et est refroidi par un refroidisseur thermoélectrique (TEC). Le cycle peut être répété aussi souvent que nécessaire sans dégradation des performances du détecteur. Les temps de refroidissement sont généralement inférieurs à 2 minutes. Les systèmes de spectroscopie à rayons X Vortex comprennent une unité de détection et un boîtier de commande qui inclut les alimentations du détecteur, du TEC et d'un processeur d'impulsions numérique optionnel avec notre logiciel PI-SPEC. Le détecteur complet contient également un préamplificateur sensible à la charge et un système de stabilisation de la température, qui élimine les problèmes liés aux variations de la température ambiante.