Système de mesure optique C10178-03E

d'épaisseurà calibre universelpour film

Le système de mesure d'épaisseur Optical NanoGauge C10178 est un système de mesure d'épaisseur de film sans contact utilisant l'interférométrie spectrale. L'épaisseur du film est mesurée rapidement avec une grande sensibilité et une grande précision grâce à l'interférométrie spectrale. Nos produits utilisent un spectromètre multicanaux PMA comme détecteurs, ce qui permet de mesurer les rendements quantiques, la réflexion, la transmission/absorption, et divers autres points tout en mesurant simultanément l'épaisseur de divers filtres optiques et films de revêtement, et plus encore. Caractéristiques - Haute vitesse et haute précision (gamme d'épaisseur de film de mesure (verre):150 nm～50 μm) - Mesure en temps réel - Mesure précise de la fluctuation du film - Analyser les constantes optiques (n, k) - Contrôle externe disponible - Le rendement quantique, la réflectance, la transmission et l'absorption peuvent être mesurés à l'aide d'accessoires spécifiques Spécifications Numéro de type : C10178-03E Modèles de mesure (caractéristiques) : supporte le NIR Gamme d'épaisseur de film mesurable (verre) : 150 nm à 50 μm*1 Reproductibilité des mesures (verre) : 0,05 nm*2 *3 Précision de mesure (verre) : ±0,4 %*3 *4 Source lumineuse : Source lumineuse halogène Longueur d'onde de mesure : 900 nm à 1650 nm Taille du spot : Environ φ1 mm*3 Distance de travail : 10 mm*3 Nombre de couches mesurables : Max. 10 couches Analyse : analyse FFT, analyse de l'ajustement, analyse des constantes optiques Temps de mesure : 19 ms/point*5 Forme du connecteur de fibres : φ12 forme du manchon Fonction de contrôle externe : RS-232C, PIPE, Ethernet Alimentation électrique : AC200 V à AC240 V , 50 Hz/60 Hz Consommation électrique : Environ 230 VA