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Appareil de contrôle de semi-conducteur
qualité

Appareil de contrôle de semi-conducteur - CIMS - qualité
Appareil de contrôle de semi-conducteur - CIMS - qualité
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Caractéristiques

Applications
de semi-conducteur
Spécifications
qualité

Description

Les options de métrologie complémentaires du CIMS sont conçues pour améliorer encore les capacités d'inspection des dispositifs semi-conducteurs. Ces options peuvent être intégrées aux équipements CIMS, offrant ainsi à nos clients un niveau supplémentaire d'assurance qualité. Les options complémentaires CIMS comprennent des fonctionnalités de métrologie 2D et 3D uniques qui permettent d'effectuer des mesures avancées au cours du cycle d'inspection normal. Cela évite de recourir à des systèmes de métrologie dédiés hors ligne et raccourcit le cycle de retour d'information en matière d'assurance qualité.

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Ceci est une traduction automatique  (voir l’original en anglais)

Autres produits CIMS

Semiconductors Inspection and Metrology

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.
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