-
{{>productsMenu}}
- Catalogues
-
{{>projectsMenu}}
-
{{>trendsMenu}}
- E-MAGAZINE
- Métrologie - Laboratoire >
- Métrologie et Essais >
- Système de mesure de dimension critique
Systèmes de mesure de dimensions critiques
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}

Le système de mesure par vidéo à CN de la gamme iNEXIV VMA offre une facilité d’utilisation optimale pour une mesure automatique de différents éléments en 3D avec un large champ de vision, ...
Nikon Metrology

... conditions d’éclairage pour chaque échantillon. Le VMZ-R3020 offre une course de 300 x 200 mm, parfaitement adaptée à la mesure de petits composants tels que les pièces mécaniques, les pièces moulées ...
Nikon Metrology

... Le NEXIV VMZ-H3030 permet d'obtenir des mesures de la plus haute précision de la série NEXIV, ainsi qu'une convivialité et des performances avancées. Principaux avantages 5 types de systèmes de zoom ...
Nikon Metrology

... optimale pour la mesure de différentes hauteurs de bosse sur des boîtiers IC avancés tels que le CSP (wafer-level CSP), ainsi que pour l'inspection de structures très complexes de MEMS et de cartes sondes. Principaux ...
Nikon Metrology

... pour chaque échantillon. Le VMZ-R6555 offre une course de 650 x 550 mm convenant parfaitement à la mesure de composants de grande taille et à la mesure en photorépétition de plusieurs pièces sur la platine. Avantages Six ...
Nikon Metrology


... SpectraShape™ Systèmes de mesure optique de dimensions et de formes critiques (CD) Le système de métrologie dimensionnelle 10K de SpectraShape™ est ...
Vos suggestions d'amélioration :
Tous les 15 jours, recevez les nouveautés de cet univers
Veuillez préciser :
Aidez-nous à nous améliorer :
restant