Système de préparation d'échantillons pour SEM EM TIC 3X

de polymères

La version actualisée de l'EM TIC 3X est basée sur notre devise "avec l'utilisateur pour l'utilisateur" en combinant performance et flexibilité d'une manière pratique. Le taux de broyage à double ion du dernier EM TIC 3X peut être encore amélioré grâce à l'option de cinq étapes différentes adaptées aux exigences de votre application. Résultats reproductibles par Ion Milling Le système de fraisage à triple faisceau d'ions, EM TIC 3X, permet de produire des sections transversales et des surfaces planes pour la microscopie électronique à balayage (MEB), l'analyse de microstructure (EDS, WDS, Auger, EBSD) et les études AFM. Avec l'EM TIC 3X, vous obtenez des surfaces de haute qualité de presque tous les matériaux à température ambiante ou cryo, révélant les structures internes de l'échantillon dans un état aussi proche que possible de l'état natif. Efficacité Ce qui compte vraiment en ce qui concerne l'efficacité d'un broyeur à faisceau d'ions, ce sont des résultats de qualité excellente avec un débit élevé. Il ne suffit pas d'augmenter le taux de broyage d'un facteur 2 par rapport à la version précédente, mais le système unique de triple faisceau d'ions optimise la qualité de la préparation et réduit le temps de travail. Jusqu'à trois échantillons peuvent être traités en une seule session. La coupe transversale et le polissage peuvent être effectués en une seule étape. Les solutions de flux de travail permettent un transfert sûr et efficace des échantillons vers des instruments de préparation ou des systèmes d'analyse ultérieurs. Système flexible - Adaptable à vos besoins à tout moment Le choix flexible des étages fait de l'EM TIC 3X un instrument parfait non seulement pour les laboratoires à haut débit, mais aussi pour les laboratoires sous contrat.