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Microscopes à force atomique

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Bruker Elemental
Microscope à force atomique (AFM)  Dimension FastScan™ Bruker Elemental

The Dimension FastScan™ Atomic Force Microscope (AFM) delivers, for the first time, extreme imaging speed without loss of resolution, loss of force control, added complexity, or additional operating costs. Based upon the highly successful Dimension Icon® AFM architecture, the FastScan AFM is a tip-scanning system that provides measurements on both large and small size samples in air or fluids. Now, ...

Microscope à force atomique (AFM) Bruker Elemental
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N8 ARGOS
N8 ARGOSAFM/SPM la manière simple

Le N8 ARGOS est un contrat et un stand fortement rigide pour le système de NANOS AFM/SPM. Équipé ultra d'une étape verticale de précision l'AFM est approché avec l'exactitude de nanomètre. Les algorithmes sophistiqués fournissent une approche sans heurt et douce de sonde. Le bout accidentel à l'échantillon entre en contact dedans non - les approches ...

Microscope à force atomique (AFM)  BioScope™ Catalyst™ Bruker Elemental

The BioScope™ Catalyst™ Atomic Force Microscope (AFM) with ScanAsyst™ provides uncompromised high-resolution optical imaging capability and thermally limited force measurements and features numerous hardware and software features that make it easier than ever to realize the unique benefits of combining atomic force microscopy and light microscopy. Bruker's exclusive Microscope Image Registration and ...

Nanosurf
Microscope à force atomique (AFM) pour intégration sur microscopes et profilomètres  LensAFM Nanosurf
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Adjonction puissante du — A de Nanosurf LensAFM aux microscopes ou aux profilomètres 3D optiques

Le Nanosurf LensAFM est un microscope atomique de force qui peut être utilisé au lieu d'un objectif objectif normal sur presque n'importe quel microscope ou profilomètre optique. Il prolonge considérablement la résolution et les possibilités de mesure de ces instruments. Le LensAFM fournit non ...

Microscope à force atomique (AFM) pour utilisation dans de l'air ou du liquide  FlexAFM Nanosurf
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La nouvelle tête de balayage easyScan de Nanosurf 2 FlexAFM rend des mesures dans le liquide aussi simples que mesurant en air. C'est l'AFM le plus souple et le plus flexible jamais. Si vous voulez actionner le FlexAFM en air ou dans le liquide, sur des surfaces en métal ou des échantillons biologiques, il ne te fait aucune différence en tant qu'utilisateur. C'est flexibilité vraie !

Dispositifs ...

Skyray Instrument
Microscope à force atomique (AFM)  AFM, LFM Skyray Instrument
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Dispositifs

Haute performance

Atomique-mesurer de la résolution
Grande dimension de l'échantillon
Avec un DSP à l'intérieur pour la grande exécution
Du système d'exploitation en temps réel incorporé
Raccordement rapide d'Ethernet avec l'ordinateur
Multifonctionnel

Microscope atomique de force (AFM)
Microscope de force latérale (LFM)
Analyse de ...

Microscope à balayage de sonde (SPM)  AFM, MFM, EFM | AA5000 Skyray Instrument
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Introductions
Le microscope de sonde du balayage AA5000 est le modèle le plus innové. L'unité a une couverture totale de SPM TECHNIQUE-MCE, AFM, LFM AFM conducteur, MFM, EFM, contrôle de l'environnement SPM et Nano-Traitement... Et l'unité est conçue pour fournir des images de balance atomique à 100 micromètres. Avec un processeur de signal numérique (DSP) TMS320C642 à l'intérieur des systèmes, ...

Accurion GmbH
Microscope à force atomique (AFM) Accurion GmbH
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Le paquet incluent l'intégration technique d'un AFM dans une formation image ellipsometern de la série nanofilm_ep3.
Tirez profit de la convenance de la formation image ellipsometry pour visualiser les couches minces et les structures extérieures, et puis bourdonnez dans des détails de nanomètre avec la microscopie de sonde de balayage sur la même tache !
L'intégration est faite par une manipulation ...

Physik Instrumente
Scanner piézoélectrique subnanométrique pour microscopie AFM, SPM  P-313 PicoCube™ Physik Instrumente
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P-313 PicoCube DE X/Y (Z) module de balayage piézo-électrique

Module de balayage d'Ultra-Haut-Exécution pour AFM/SPM
Résolution de 20 Picometers, hystérésis de <1 nanomètre
Largeur de bande très élevée sans le retard servo dû au nouveau concept d'entraînement
Outil compact de manipulation pour Bio-/Nanotechnology
Fréquence de résonance 4.0 kilohertz (X, Y), 11 kilohertz (z)
1 ...

ANVER Vacuum System Specialists
Pompe à vide à palettes lubrifiée  max. 1982 l/min | AFM series ANVER Vacuum System Specialists
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Série AFM12 et AFM21
ANVER huile-inondés, pompes de vide de multi-palette sont en une seule étape, refroidis à l'air et directs conduits. Cette conception simple assure la fiabilité et la longévité qui est exigée dans
industrie de vide.
Équipement standard :
? Matériel composé de palette pour de longue vie
? Non métal ou amiante
? Verre d'emplacement de niveau d'huile
? ...

Park Systems Inc.
Microscope à force atomique (AFM)  XE-70 Park Systems Inc.
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Accessible, Recherche-Catégorie AFM avec la manipulation flexible d'échantillon

Une prolongation économique du XE-100, le XE-70 est solution d'AFM de systèmes de parc nouvelle' pour les clients conscients de budget. Ayant une conception mécanique compacte, le XE-70 continue la technologie innovatrice des XE-séries qui des ensembles il indépendamment de l'AFM conventionnel. Le XE-70 partage ...

Microscope à force atomique (AFM)  NX10 Park Systems Inc.

Data accuracy is of paramount importance to nanotechnology researchers as the credibility of their research depends upon accurate results. The NX10, the world’s most accurate AFM, is the flagship AFM of Park Systems’ new product line. The NX10 brings unparalleled imaging accuracy, scan speeds, and tip life to the next generation of researchers, all at an affordable price. The NX10 is the world’s premium ...

Microscope à force atomique (AFM) pour applications métrologiques Park Systems Inc.
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Le XE-200 est un AFM de la capacité accrue qui soutient 200 millimètres de recherche de gaufrette. En plus du balayage précis l'exécution a fourni par véritable mode de non contact, les utilisateurs des offres XE-200 une étape DE X/Y codée qui voyage au-dessus des 200 millimètres entiers X 200 millimètres de secteur d'échantillon, une gamme DE X/Y agrandie de balayage de 200 &#956 ; m X 200 &#956 ...

DME - Danish Micro Engineering A/S
Microscope électronique à balayage (SEM) et à force atomique (AFM) combinés DME - Danish Micro Engineering A/S
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Le BRR, un SEM/AFM entièrement intégré

Outil de combinaison entièrement intégrée des PSEM/AFM pour des mesures courantes. Une interface de logiciel simple permet l'opération d'AFM et de PSEM aussi bien que des mesures de combinaison à la poussée d'un bouton. Basé sur Zeiss Auriga® et une version spéciale de notre UHV AFM, cet instrument représente non-plus-ultra l'outil extérieur de caractérisation. ...

Microscope à force atomique (AFM) DME - Danish Micro Engineering A/S
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Le module de balayage de DualScope DS 95 AFM

il des modules de balayage des 95 séries de DualScope DS sont disponible dans un certain nombre de différentes variantes. Le module de balayage de DS 95-50 a une gamme standard de balayage 50 du µm X 50 le µm du µm X 5, et le module de balayage de DS 95-200 a une gamme standard de balayage 200 du µm X 200 le µm du µm X 15. Le module de balayage ...

Microscope à force atomique (AFM) haute résolution DME - Danish Micro Engineering A/S
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UHV AFM

Un vide ultra poussé developpé récemment AFM de résolution pour la mesure courante, qui fonctionne avec les encorbellements standard de silicium. Le changement témoin et de sonde sont faits par l'intermédiaire de la charge-serrure. L'installation compacte extrême de module de balayage témoin pour des échantillons de diamètre de jusqu'à 5 millimètres soutient la résolution atomique ...

attocube systems AG
Microscope à force atomique (AFM)  attoAFM I attocube systems AG
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L'attoAFM I est un microscope atomique compact de force conçu en particulier pour des applications aux basses et très réduites températures. L'instrument fonctionne à côté de balayer un encorbellement à travers une surface témoin et à côté de mesurer son débattement avec la plus haute précision à l'aide d'un interféromètre optique à fibres. Entrer en contact, de non contact, et le mode de modulation ...

Microscope à force atomique (AFM)  attoAFM III attocube systems AG
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L'attoAFM III est un microscope atomique de force conçu en particulier pour des applications au bas et à la température ultra basse. En raison de la détection non-optique de force de cisaillement basée sur un diapason, ce système approprié idéalement aux applications où l'entrée de la lumière est problématique. Une application typique du microscope de l'attoAFM III est microscopie de porte de balayage ...

Microscope à force atomique (AFM)  attoAFM/STM attocube systems AG
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Dans l'attoAFM/STM, les deux mondes de la force et de la microscopie atomiques de perçage d'un tunnel de balayage sont véritablement combinés. Contrairement à l'attoAFM III, l'attoAFM/STM utilise un diapason horizontalement aligné pour ramener la longueur courante de fil de perçage d'un tunnel non protégé à un minimum (plusieurs millimètres dans ce cas-ci).
Avec cet instrument, les mesures de ...

Asylum Research
Microscope à force atomique (AFM)  MFP-3D™ Asylum Research
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Le microscope à force atomique (AFM), a été l'instrument du choix pour des mesures tridimensionnelles à la balance de nanomètre. Avec le stand de MFP-3D seul (MFP-3D-SA) AFM, les scientifiques peuvent maintenant choisir un AFM sensible et précis avec la plus basse exécution de bruit qui inclut également un environnement scientifique complet de logiciel. Le MFP-3D-SA est idéal pour beaucoup d'applications ...

Microscope à force atomique (AFM) pour applications métrologiques Asylum Research
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Le MFP NanoIndenter de l'asile est un pénétrateur équipé vrai et est le premier pénétrateur AFM-basé qui n'utilise pas des encorbellements en tant qu'élément du mécanisme de découpage. Ces caractéristiques et l'utilisation des sondes du dernier cri d'AFM fournissent des avantages substantiels dans l'exactitude, la précision et la sensibilité au-dessus d'autres systèmes nanoindenting. Avec des nanoindenters ...

Microscope à force atomique (AFM) haute résolution  <60 pm | Cypher™ Asylum Research
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Cypher AFM, la résolution la plus élevée AFM du monde avec la résolution atomique de boucle bloquée pour les images les plus précises. Avec le chiffrement AFM, vous plus devez ne choisir entre l'exactitude et la commande de la boucle bloquée et l'à faible bruit de la boucle ouverte. Les sondes du système de NanoPositioning du troisième génération de l'asile (NPS) sont les plus silencieuses au monde ...

Angstrom Advanced
Microscope à force atomique (AFM)  AA2000 Angstrom Advanced
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Microscope de sonde du balayage AA2000

Haute performance

Atomique-mesurer de la résolution
Grande dimension de l'échantillon
Avec un DSP à l'intérieur pour la grande exécution
Du système d'exploitation en temps réel incorporé
Raccordement rapide d'Ethernet avec l'ordinateur

Multifonctionnel

Microscope atomique de force (AFM)
Microscope de force ...

FRT, Fries Research & Technology
Microscope à force atomique (AFM) FRT, Fries Research & Technology
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Les microscopes atomiques de force de FRT (AFMs) balayent la surface d'un échantillon employant un bout très fin sur l'extrémité d'un encorbellement de micro-échelle.

Les interactions atomiques entre le bout et la surface mènent à un débattement de l'encorbellement qui est alors détecté par un élément piézorésistif. Basé sur cet effet, l'AFM peut mesurer la topographie ou la rugosité d'une ...

AFM-Forest
Tête d'abattage  max. ø 50 cm | AFM 45 Corona AFM-Forest
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La corona d'AFM 45 est une lumière, tête maneuverable conçue particulièrement pour des opérations de éclaircissement, mais avec assez de puissance d'être employé dans de petits clearcuttings. C'est une tête favorable à l'environnement de moissonneuse. La conception étroite de la corona d'AFM 45 le rend facile de déplacer la tête entre les arbres sans endommager les arbres résiduels. Quatre couteaux ...

Tête d'abattage  max. ø 58 cm | AFM 50 L AFM-Forest

AFM 50 L has just one pair of movable knives and a shorter base, allowing easy working with curved trees and hardwood species. For its weight, the AFM 50 L has great capacity. The reliable hydraulics of the AFM 50 L allows the use of a higher pressure level together with the non-sliding feeding system. The high-speed saw unit is equipped with handy hydraulic chain tensioning, which keeps the chain ...

Tête d'abattage  max. ø 73 cm | AFM 58 Husky AFM-Forest
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Le chien de traîneau d'AFM 58 principal est la meilleure option pour le clair-découpage ou l'éclaircissement de bois tendre de quelle qualité delimbing est fortement importante. Sa puissance d'alimentation élevée, combinée avec son système de arbre-alimentation de rouleaux et deux paires de couteaux delimbing, fournit à haute production en toutes les conditions. L'hydraulique à haute pression peut ...

Bruker Daltonics Inc
Analyseur de traces de gaz  RAID-AFM Bruker Daltonics Inc
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RAID-AFM Le RAID-AFM (version d'OR) répond aux exigences provocantes pour la protection de l'infrastructure critique. A conçu pour être employé dans un rôle stationnaire qu'il fournit la surveillance à long terme des menaces d'agents chimiques (agents de guerre chimique, CWA aussi bien que produits chimiques industriels toxiques, TIC et rayonnement nucléaire.

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