Spectromètres XRF HELMUT FISCHER

• Analyse de bains galvaniques et mesure d'épaisseur de revêtement avec fluorescence X selon DIN ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit point de mesure avec le XULM env. 0,1 mm ; plus petit point de mesure avec le XUL env. 0,5 mm • Tube ...

• Analyse de bains galvaniques et mesure d'épaisseur de revêtement avec fluorescence X selon DIN ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit point de mesure avec le XULM env. 0,1 mm ; plus petit point de mesure avec le XUL env. 0,5 mm • Tube ...

• Spectromètres universels de fluorescence X pour l'analyse des métaux et des métaux précieux, la mesure de l'épaisseur de revêtement et le dépistage RoHS selon DIN ISO 3497 et ASTM B 568 • Détecteurs à semi-conducteurs ...

• Test de l'or non destructif, rapide et précis • Chambre de mesure spacieuse • Conception compacte et robuste, conçue pour une utilisation soutenue et à long terme • Aucune préparation d'échantillon n'est nécessaire. Placez simplement ...

... Analyse, détermination de la valeur et vérification de l'authenticité. Robuste appareil de table XRF optimisé pour l'analyse la plus puissante, la plus rapide et la plus non destructive des bijoux, des pièces de monnaie ...

... manuellement (table en ciseaux). De plus, l'analyse XRF de couches de compositions complexes ou de faibles concentrations est facilement réalisable. Même la mesure de l'épaisseur des revêtements et l'analyse XRF ...

• Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie pour l'analyse automatisée des matériaux et la mesure non destructive de l'épaisseur du revêtement selon ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit spot de mesure XDLM ...

• Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie pour l'analyse automatisée des matériaux et la mesure non destructive de l'épaisseur du revêtement selon ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit spot de mesure XDLM ...

... dérive au silicium (SDD) de haute qualité offre une meilleure résolution énergétique que le PIN diode au silicium. Les spectromètres XDAL ainsi équipés sont utilisés pour résoudre des tâches de mesure complexes dans l'industrie ...

Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD est l'un des appareils à fluorescence X les plus performants du catalogue Fischer. Ce spectromètre XRF est équipé d'un détecteur de dérive au silicium ...