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... • Spectromètres universels de fluorescence X pour l'analyse des métaux et des métaux précieux, la mesure de l'épaisseur de revêtement et le dépistage RoHS selon DIN ISO 3497 et ASTM B 568 • Détecteurs à semi-conducteurs haut de gamme ...
HELMUT FISCHER SRL
... • Test de l'or non destructif, rapide et précis • Chambre de mesure spacieuse • Conception compacte et robuste, conçue pour une utilisation soutenue et à long terme • Aucune préparation d'échantillon n'est nécessaire. Placez simplement l'article sur ...
HELMUT FISCHER SRL
... Analyse, détermination de la valeur et vérification de l'authenticité. Robuste appareil de table XRF optimisé pour l'analyse la plus puissante, la plus rapide et la plus non destructive des bijoux, des pièces de monnaie et des métaux ...
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... manuellement (table en ciseaux). De plus, l'analyse XRF de couches de compositions complexes ou de faibles concentrations est facilement réalisable. Même la mesure de l'épaisseur des revêtements et l'analyse XRF des matériaux ...
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... • Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie pour l'analyse automatisée des matériaux et la mesure non destructive de l'épaisseur du revêtement selon ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit spot de mesure XDLM : env. 0,1 mm ; ...
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... dérive au silicium (SDD) de haute qualité offre une meilleure résolution énergétique que le PIN diode au silicium. Les spectromètres XDAL ainsi équipés sont utilisés pour résoudre des tâches de mesure complexes dans l'industrie électronique ...
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... Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD est l'un des appareils à fluorescence X les plus performants du catalogue Fischer. Ce spectromètre XRF est équipé d'un détecteur de dérive au silicium (SDD) haute résolution ...
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... fins < 0,1 µm • Tubo microfocus Ultra con anodo di tungsteno per prestazioni ancora più elevate sugli spot più piccoli con µ- XRF; anode en molybdène en option • 4 x filtre interchangeable • Détecteur de dérive au silicium extrêmement ...
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... Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD est l'instrument XRF leader du marché pour les applications de connectique et d'électronique. La distance de mesure unique de 12 mm permet de mesurer des pièces de test de forme complexe telles que des ...
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