Spectromètres de laboratoire HELMUT FISCHER

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spectromètre à fluorescence
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XULM®-PCB

Les instruments de mesure de la série XUL® sont la solution de choix pour déterminer rapidement et avec une grande précision les épaisseurs de revêtement dans la galvanoplastie ou la fabrication de produits électroniques. Les instruments ...

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HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
spectromètre à fluorescence
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XUL® series

Appareil de mesure robuste et économe à fluorescence de rayons X pour l'analyse de matériaux et la mesure d'épaisseur de revêtements non intrusives.

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HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
spectromètre à fluorescence
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XDL® series

Appareil de mesure à fluorescence de rayons X pour la mesure manuelle ou automatisée d'épaisseur de revêtements fonctionnels, revêtements anti-corrosion et pièces de série.

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HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
spectromètre à fluorescence
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X-RAY XDV®-µ

Appareil de mesure à fluorescence de rayons X avec système optique à rayons X polycapillaire pour la mesure et l'analyse automatisées d'épaisseurs de revêtements et de combinaisons de revêtements sur de petites pièces et structures

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HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
spectromètre à fluorescence
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FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®500

Le XAN®500 est l'appareil le plus polyvalent de la gamme FISCHER.Il peut être utilisé aussi bien en version portable, en poste fixe ou directement sur ligne. Equipé d'une tablette, le XAN®500 fonctionne avec le fameux logiciel WinFTM® ...

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spectromètre à fluorescence
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XDLM®-PCB 200/210

Avec des axes entraînés par moteur (en option) et un sens de mesure de haut en bas, les instruments de mesure de la gamme XDL® permettent de réaliser des tests en série automatisés. Plusieurs versions, avec des sources de rayonnement ...

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HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
spectromètre à fluorescence X
spectromètre à fluorescence X
FISCHERSCOPE® XAN®

Spectromètres universels de fluorescence X pour l'analyse des métaux et des métaux précieux, la mesure de l'épaisseur de revêtement et le dépistage RoHS selon DIN ISO 3497 et ASTM B 568 • Détecteurs à semi-conducteurs ...

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