Spectromètres compacts HELMUT FISCHER

• Test de l'or non destructif, rapide et précis • Chambre de mesure spacieuse • Conception compacte et robuste, conçue pour une utilisation soutenue et à long terme • Aucune préparation d'échantillon n'est nécessaire. ...

... dérive au silicium (SDD) de haute qualité offre une meilleure résolution énergétique que le PIN diode au silicium. Les spectromètres XDAL ainsi équipés sont utilisés pour résoudre des tâches de mesure complexes dans l'industrie ...

• Analyse de bains galvaniques et mesure d'épaisseur de revêtement avec fluorescence X selon DIN ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit point de mesure avec le XULM env. 0,1 mm ; plus petit point de mesure avec le XUL env. 0,5 mm • Tube ...

• Analyse de bains galvaniques et mesure d'épaisseur de revêtement avec fluorescence X selon DIN ISO 3497 et ASTM B 568 • Plus petit point de mesure avec le XULM env. 0,1 mm ; plus petit point de mesure avec le XUL env. 0,5 mm • Tube ...

... d'échantillon jusqu'à 400 °C • Disponible en option avec refroidissement par eau • Conception et construction particulièrement robustes pour des mesures durables et précises dans des conditions difficiles • Extrêmement ...

Appareil de mesure robuste et économe à fluorescence de rayons X pour l'analyse de matériaux et la mesure d'épaisseur de revêtements non intrusives.

Appareil de mesure à fluorescence de rayons X avec système optique à rayons X polycapillaire pour la mesure et l'analyse automatisées d'épaisseurs de revêtements et de combinaisons de revêtements sur de petites pièces et structures