Microscope SEM Sigma​ series

pour analysed'inspectionpour matériaux

La série ZEISS Sigma combine la technologie de microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) avec une excellente expérience d'utilisation. Elle contribue à structurer vos routines d'imagerie et d'analyse et à augmenter la productivité. Étudiez de nouveaux matériaux, des particules définies pour le contrôle de la qualité ou des échantillons biologiques ou géologiques. N'acceptez aucun compromis en imagerie haute résolution : utilisez des tensions basses et bénéficiez d'une résolution et d'un contraste améliorés à 1 kV ou moins. Réalisez des travaux de microscopie analytique avancée grâce à la meilleure géométrie EDS de sa catégorie et obtenez des données analytiques plus précises, deux fois plus rapidement. Grâce à la série Sigma, accédez au niveau supérieur de la nano-analyse. Sigma 360 est la solution de choix pour les centres d'imagerie : un FE-SEM intuitif pour l'imagerie et la microscopie analytique. Sigma 560 utilise la meilleure géométrie EDS de sa catégorie pour fournir des analyses à haut rendement et l'automatisation d'expériences in situ. Le choix des centres d'imagerie. Acquisition intuitive. Bénéficiez d'un guidage précis, de la séquence de réglages aux résultats assistés par IA. Découvrez un processus d'imagerie intuitif. Expérimentez la différence jusqu'à 1 kV. Améliorez la résolution et le contraste. Réalisez une imagerie à pression variable aux extrêmes pour obtenir d'excellents résultats sur des échantillons non conducteurs. Analyse à débit élevé. Expériences in situ automatiques. Analyse performante d'échantillons réels : analyses rapides et polyvalentes sur le MEB.