Scanner 3D ABIS III

pour inspection de surface

ZEISS ABIS III combine une inspection à grande vitesse avec une détection fiable de tous les défauts de surface pertinents tels que les bosses, les renflements, les marques d'enfoncement, les ondulations, les étranglements, les fissures et, désormais, les rayures et les marques de pression. Le système inspecte les pièces mobiles et fixes de manière reproductible et très précise pendant la production en direct et dans le respect du temps de cycle. En outre, il convient non seulement à une utilisation en ligne, mais aussi à une utilisation en ligne dans l'environnement de production. La technologie brevetée Multi-Color-Light permet de détecter les plus petits défauts. Après seulement quelques secondes, un rapport d'inspection numérique est émis. De cette manière, des fonctions telles que l'arrêt Q et des détails numériques sur la qualité, comme la visualisation des défauts pour les retouches programmées, sont toujours disponibles. Elles constituent la base des circuits en boucle fermée et la condition préalable à la mise en œuvre du contrôle des processus intelligents. Conçu et développé en Allemagne pour répondre aux normes de qualité les plus élevées, ZEISS ABIS III est la solution idéale pour les ateliers de presse modernes et les ateliers de carrosserie tournés vers l'avenir. L'un des points forts techniques dans ce contexte est le module MCL nouvellement développé. La technologie brevetée Multi-Color-Light permet de détecter les plus petits types de défauts à une fréquence allant jusqu'à 20 Hz et avec un temps d'évaluation de moins de 0,5 seconde par balayage du capteur. En combinaison avec le logiciel ZEISS ABIS V20, les caractéristiques de la surface sont détectées en quelques secondes et évaluées selon les spécifications des normes de l'entreprise. Le logiciel visualise en temps réel les types de défauts tels que les bosses, les renflements, les ondulations, les creux et les lignes de dérapage et enregistre numériquement les résultats de l'inspection dans une base de données.