Machine de mesure tridimensionnelle à portique CONTURA
à capteur multiplehaute précision

machine de mesure tridimensionnelle à portique
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Caractéristiques

Structure
à portique
Type de palpage
à capteur multiple
Autres caractéristiques
haute précision
Course X

Min: 700 µm

Max: 1 200 µm

Course Y

Min: 700 µm

Max: 2 400 µm

Course Z

Min: 600 µm

Max: 800 µm

Description

ZEISS CONTURA vous prépare aujourd'hui à vos défis de demain : Une interface commune permet de passer facilement d'une technologie de capteur à l'autre en quelques étapes seulement - grâce à la technologie de masse de ZEISS. Des options innovantes telles que la mesure sur quatre axes à l'aide d'un plateau rotatif flexible, le système automatisé de changement de sonde ZEISS ProMax E ou l'option HTG (pour les plages de température plus élevées) font de la machine de mesure des coordonnées une machine d'avenir avec des performances de premier ordre.

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BIEMH 2024
BIEMH 2024

3-07 juin 2024 Bilbao (Espagne) Hall 6 - Stand C-10

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    * Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.