Microscope à rayons X Xradia series
de laboratoire3Din-situ

microscope à rayons X
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Caractéristiques

Type
à rayons X
Applications
de laboratoire
Technique d'observation
3D, in-situ
Autres caractéristiques
haute résolution
Résolution spatiale

40 nm

Description

ZEISS Xradia 610 et 620 Versa Microscopie à rayons X 3D pour une imagerie rapide et une résolution submicronique des échantillons intacts. Allez au-delà de l'exploration pour atteindre vos moments de découverte. Libérez de nouveaux degrés de polyvalence pour votre recherche scientifique et industrielle avec les modèles de microscopes à rayons X 3D les plus avancés de la famille ZEISS Xradia Versa. S'appuyant sur la meilleure résolution et le meilleur contraste du marché, les microscopes ZEISS Xradia Versa 610 & 620 repoussent les limites de votre imagerie non destructive à l'échelle sub-micronique. Points forts Dépassez les limites de la micro et nano tomographie Microscopie non destructive à une échelle inférieure au micron d'échantillons intacts Flux plus élevé et numérisations plus rapides sans compromettre la résolution Résolution spatiale réelle de 500 nm avec une taille de voxel minimale réalisable de 40 nm Haute résolution sur une large gamme de types d'échantillons, de tailles et de distances de travail Imagerie in situ pour la caractérisation non destructive de microstructures dans des environnements contrôlés et dans le temps Evolutif et extensible avec les innovations et développements futurs

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    3-07 juin 2024 Bilbao (Espagne) Hall 6 - Stand C-10

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