ZEISS Xradia 610 et 620 Versa
Microscopie à rayons X 3D pour une imagerie rapide et une résolution submicronique des échantillons intacts.
Allez au-delà de l'exploration pour atteindre vos moments de découverte.
Libérez de nouveaux degrés de polyvalence pour votre recherche scientifique et industrielle avec les modèles de microscopes à rayons X 3D les plus avancés de la famille ZEISS Xradia Versa.
S'appuyant sur la meilleure résolution et le meilleur contraste du marché, les microscopes ZEISS Xradia Versa 610 & 620 repoussent les limites de votre imagerie non destructive à l'échelle sub-micronique.
Points forts
Dépassez les limites de la micro et nano tomographie
Microscopie non destructive à une échelle inférieure au micron d'échantillons intacts
Flux plus élevé et numérisations plus rapides sans compromettre la résolution
Résolution spatiale réelle de 500 nm avec une taille de voxel minimale réalisable de 40 nm
Haute résolution sur une large gamme de types d'échantillons, de tailles et de distances de travail
Imagerie in situ pour la caractérisation non destructive de microstructures dans des environnements contrôlés et dans le temps
Evolutif et extensible avec les innovations et développements futurs