- Métrologie - Laboratoire
- Équipements de Laboratoire
- Microscope électronique à balayage
- ZEISS Industrial Metrology
Microscope SEM ZEISS SIGMApour analyseà caméra numérique
Ajouter à mes favoris
Ajouter au comparateur
Caractéristiques
- Type
- SEM
- Applications
- pour analyse
- Autres caractéristiques
- à caméra numérique
Description
Le SIGMA FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscopes) est une série de microscopes avancés utilisés pour la détection des électrons.
Il est livré avec un logiciel de navigation d'image qui est incorporé dans SmartSEM. Il est conçu à partir de la colonne GEMINI, ce qui lui confère une stabilité d'image à basse tension. Le montage de détecteurs EDS doubles dans sa chambre augmentera sa fonctionnalité.
---
Catalogues
Aucun catalogue n’est disponible pour ce produit.
Voir tous les catalogues de ZEISS Industrial MetrologySalons
Rencontrez ce fournisseur au(x) salon(s) suivant(s)
Autres produits ZEISS Industrial Metrology
Electron Microscopes
Recherches associées
- Microscope Zeiss
- Microscope optique Zeiss
- Microscope de laboratoire Zeiss
- Microscope d'inspection Zeiss
- Microscope à caméra numérique Zeiss
- Microscope à illumination LED
- Microscope de mesure
- Microscope polariseur
- Microscope pour analyse
- Stéréomicroscope
- Stéréomicroscope optique
- Microscope droit
- Microscope portable
- Microscope haute résolution
- Microscope opto-numérique
- Microscope automatique
- Microscope compact
- Microscope industriel
- Microscope pour la recherche en matériaux Zeiss
- Microscope métallurgique
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.