Spectromètre à rayons X JB-EDX8800

XRFpour analyse spectraled'acquisition de données

L'EDX8800E absorbe tous les avantages de la série EDX et est en outre équipé d'un système de vide, de sorte qu'il élargit la portée des tests, améliore la limite de détection et renforce la stabilité des données. Caractéristiques du produit : 1.Le détecteur de courant d'air en silicium importé d'Amérique avec une résolution énergétique plus élevée améliore grandement la détection. 2.La limite des éléments lumineux est 100 fois plus élevée que celle du détecteur Si-pin. Le champ de mesure est plus large, ce qui permet de répondre pratiquement aux exigences d'analyse des éléments de tous les matériaux conventionnels. 3.Le système de traitement de l'intégration des données importé d'Amérique rend l'acquisition des données plus rapide, la mesure plus stable avec une excellente répétabilité et une stabilité à long terme. 4.Un logiciel à jour intégrant plusieurs méthodes de calcul d'images rend la mesure des données plus précise et plus stable. 5.Un logiciel complet surveille les parties centrales en cours d'exécution, ce qui garantit un fonctionnement sûr. 6.Un système de vide spécialisé offre de meilleures performances de vide et d'excellents résultats d'essai. Éléments mesurables - Na-U Teneur en éléments - 1ppm-99.99% Limite de détection - 1ppm Temps de mesure - 60-200s (réglable) Alimentation - AC220±5V Courant de sortie maximal du tube à rayons X - 1mA Pression ultime - 6,7×10-2 Pa Taille de la chambre à échantillon - 610*320*100(mm) (Sans vide)/Φ100*h75(mm) (Vide) Stabilité du travail à long terme (sous réserve de l'échantillon standard) - ±0,05 % (contenu élevé) /±0,002 % (micro-contenu) Excellente répétabilité (sous réserve d'un échantillon standard) - 0,06%((teneur élevée)/±0,0025%(micro-contenu)