Description du produitLe système de mesure de profil d'épaisseur TSM (GPA EVO II) est un appareil de laboratoire hors ligne destiné aux fabricants de films soufflés et de films coulés. Il associe des capteurs capacitif sans contact et micrométriques à un étalonnage automatique et au logiciel intégré GPA-Win pour fournir des mesures répétables au niveau du micron sur l'ensemble du profil de film. Conçu pour le contrôle qualité, les essais en laboratoire et la validation des procédés, le système permet une vérification indépendante de l'épaisseur afin de soutenir le contrôle de production et la conformité aux normes ISO/DIN.
Caractéristiques clés- Type de mesure : Mesure de profil d'épaisseur hors ligne pour films soufflés et films coulés
- Précision de mesure : ±0,2 μm pour une validation précise et répétable
- Résolution du capteur : 0,05 μm pour une analyse détaillée du profil
- Système d'étalonnage : Remise à zéro automatique pour garantir une précision de base constante
- Technologie des capteurs : Capteurs capacitif sans contact et micrométriques pour un fonctionnement fiable et peu d'usure
- Interface logicielle : GPA-Win intégré avec visualisation de profil et outils de rapport
- Souplesse de mesure : Adapté à des longueurs d'échantillon et exigences de production variables
- Manipulation des films : Support à rouleaux pour un déplacement d'échantillon stable et contrôlé
- Connectivité : Interface LAN pour intégration PC et gestion structurée des données
- Conformité : Conçu pour supporter les normes qualité ISO et DIN
Caractéristiques techniques- Largeur échantillon film : 100 mm
- Longueur maximale d'échantillon : 19,99 m
- Vitesse de mesure : 15–80 mm/s
- Plage de mesure : 0–300 μm
- Résolution du capteur : 0,05 μm
- Précision de mesure : ±0,2 μm
- Force de pression : 0,3–0,5 N
- Interface : 1 x LAN (PC)