Capteur interférométrique NS-1

Il s'agit d'un nouveau système d'interférométrie optique qui n'est pas limité par la précision des éléments optiques ou de l'objet mesuré, basé sur le fait que les statistiques du champ de diffusion (speckle laser) généré lorsqu'un objet à surface rugueuse est irradié par un laser sont complètement aléatoires au sens statistique du terme. Applications attendues - Analyse du fonctionnement des composants micro-mécaniques tels que les MEMS - Applications où les jauges de contrainte ne sont pas applicables (mesure des caractéristiques de déformation et de contrainte thermique des matériaux polymères et des pièces micro-articulées) - Échantillons biologiques (mesure du comportement en temps ultra-court de la croissance des plantes, surveillance de haute précision de la croissance des cultures dans les usines, définition des conditions de culture optimales) - Mesures environnementales (évaluation environnementale à l'aide d'organismes vivants) Caractéristiques - Mesures de haute précision - Des mesures d'un ordre inférieur au nanomètre sont possibles (le système de mesure est simplement déterminé par le nombre de points de données utilisés) - Mesure sans contact, non invasive - Système optique simple - Aucun point de référence absolu n'est requis pour la mesure (deux points quelconques peuvent être utilisés) Laser - Longueur d'onde : 660nm Puissance maximale : 90mW Équivalent à la classe 3B Diamètre du faisceau laser - Environ 1,0 mm Intervalle entre les faisceaux laser - Environ 3,0 mm Précision de la mesure - ±1,0 nm PC et logiciel - Fournis en tant qu'accessoires standard Taux de trame - 2fps Alimentation - Monophasé, AC100V, 50/60Hz, 5A Dimensions - - L240 × D200 × H280mm (unité principale) - L390 × D320 × H200mm (Unité de contrôle) Poids (approx.) - - 5kg (unité principale) - 6kg (unité de contrôle)