Spectromètre UV Nexsa G2 XPS
à rayons Xde photoélectrons rayons Xd'acquisition de données

Spectromètre UV - Nexsa G2 XPS - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - à rayons X / de photoélectrons rayons X / d'acquisition de données
Spectromètre UV - Nexsa G2 XPS - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - à rayons X / de photoélectrons rayons X / d'acquisition de données
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Caractéristiques

Type
à rayons X, UV, de photoélectrons rayons X
Domaine
d'acquisition de données
Autres caractéristiques
automatisé

Description

Le système Thermo Scientific Nexsa G2 X-Ray Photoelectron Spectrometer (XPS) offre une analyse de surface entièrement automatisée et à haut débit, fournissant les données nécessaires pour faire avancer la recherche et le développement ou pour résoudre les problèmes de production. En intégrant le XPS à la spectroscopie de diffusion ionique (ISS), à la spectroscopie photoélectronique UV (UPS), à la spectroscopie de perte d'énergie des électrons réfléchis (REELS) et à la spectroscopie Raman, il vous permet d'effectuer une véritable analyse corrélative. Le système comprend désormais des options pour le chauffage et la polarisation des échantillons afin d'élargir la gamme des expériences possibles. Le système d'analyse de surface Nexsa G2 ouvre la voie à des avancées dans les domaines de la science des matériaux, de la microélectronique, du développement des nanotechnologies et de nombreuses autres applications. Caractéristiques du système d'analyse de surface Nexsa G2 Source de rayons X haute performance Un nouveau monochromateur de rayons X optimisé permet de sélectionner une zone d'analyse de 10 µm à 400 µm par pas de 5 µm, ce qui garantit que les données sont collectées à partir de la caractéristique d'intérêt tout en maximisant le signal. Optique électronique optimisée La lentille électronique à haute efficacité, l'analyseur hémisphérique et le détecteur permettent une excellente détectabilité et une acquisition rapide des données. Visualisation de l'échantillon XPS Les caractéristiques de l'échantillon sont mises en évidence grâce au système de visualisation optique breveté du système d'analyse de surface Nexsa G2 et à la carte XPS SnapMap, qui vous aide à repérer rapidement les zones d'intérêt. Analyse XPS des isolateurs La source d'inondation à double faisceau brevetée couple des faisceaux d'ions à faible énergie avec des électrons à très faible énergie (moins de 1 eV) pour empêcher la charge de l'échantillon pendant l'analyse, ce qui élimine, dans la plupart des cas, la nécessité d'un référencement de la charge.

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.