Analyseur diffusivité flash DXF 200+

de gazde surveillancede laboratoire

Le Discovery Xénon Flash 200+ comprend une source brevetée High Speed Xenon-Pulse DeliveryTM (HSXD) et un Light PipeTM anamorphique à multiples facettes. Ensemble, ces optiques délivrent une impulsion lumineuse d’une puissance inégalée et d’une intensité uniforme à l’échantillon tout en empêchant son débordement du porte-échantillon. Seule la conception au xénon haute énergie de TA Instruments est capable de tester des échantillons d’un diamètre de 25,4 mm sur une plage de température de -175 °C à 900 °C. L’utilisation de grands échantillons diminue les erreurs associées à l’inhomogénéité et permet des mesures représentatives de composites mal dispersés. La plateforme DXF est destinée aux programmes de recherche et développement ainsi qu’au contrôle de production.