Lentille en silicium
MWIRpour l'optiquepour laser

lentille en silicium
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Caractéristiques

Matériau
en silicium
Caractéristiques optiques
MWIR
Applications
pour l'optique, pour laser, de balayage
Diamètre

Min: 10 mm
(0,39 in)

Max: 101,6 mm
(4 in)

Description

Depuis plus de 40 ans, Sil'tronix Silicon Technologies produit son propre lingot de silicium monocristallin afin de fournir la meilleure qualité pour les applications photoniques L'ensemble des produits est fabriqué en interne dans notre propre usine afin de fournir la flexibilité demandée en fonction de l'application. Nous utilisons exclusivement du silicium pur (9N) afin de maintenir une cohérence fiable et qualitative. Notre objectif est de fabriquer des produits de haute valeur en fonction de spécifications individuelles afin de répondre aux besoins de chaque utilisateur avec le plus haut niveau de qualité. Le silicium de qualité optique est normalement spécifié avec une résistivité de 5 à 40 ohm-cm pour une meilleure transmission d'environ 10 μm. Les fenêtres en silicium ont une bande passante supplémentaire de 30 à 100 microns qui n'est efficace que dans les matériaux à très haute résistivité SIL'TRONIX ST CAPACITÉS POUR LES LENTILLES EN SILICIUM Sil'tronix cultive ses propres lingots de silicium par la technique de tirage de Czochralski (CZ). Cette technique de tirage produit un silicium qui contient un peu d'oxygène, ce qui provoque une bande d'absorption à 5,8, 9,1 et 19,4 microns. Pour éviter cela, il est possible de fournir un matériau Float Zone (FZ) qui ne présente pas cette absorption. Nos fenêtres optiques en silicium monocristallin sont fréquemment utilisées pour les miroirs laser et les plaques de diffusion, grâce à leur haute conductivité thermique et leur faible densité. Nos produits sont également utiles comme transmetteur dans la gamme des 20 microns et sont aussi largement utilisés comme cibles dans les expériences de physique neutronique XRD (analyse par diffraction des rayons X) SEM (microscope électronique à balayage) AFM (microscope à force atomique) FTIR (infrarouge) Analyse par spectroscopie de fluorescence Expérience de rayonnement porteur d'échantillon synchrotron Substrat de croissance épitaxiale par faisceau moléculaire

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.