Prisme en silicium

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Caractéristiques

Matériau
en silicium

Description

Réflectance totale atténuée et Prismes Sil’tronix ST est spécialisée dans la fabrication de cristaux pour la réflectance totale atténuée (ATR) personnalisés pour différentes études structurelles non destructives : spectroscopie FTIR, spectroscopie IR, spectroscopie ATR, spectroscopie NMR, spectroscopie Raman, Spectrométrie photoélectronique X, spectroscopie MRI, spectroscopie EPR, et expériences sur neutrons. Nous produisons nos propres lingots de silicium monocristallin depuis la matière première (à partir de silicium de grade semi-conducteur 9N) jusqu'au nettoyage final afin de garantir une constante qualité et fiabilité tout au long de la chaine de fabrication. C’est aussi le meilleur moyen de proposer le maximum de flexibilité au regard des besoins clients très spécifiques. Depuis plus de 40, nous avons accumulé une certaine expérience ainsi que de nombreuses connaissance dans le domaine de la cristallographie pour fournir des cristaux ATR avec l’assurance d’obtenir la meilleure qualité. Tous nos prismes sont fabriqués avec une haute résistivité, issus du procédé de croissance Float Zone (FZ). Dimensions standardS du cristal ATR - 52 x 20 x 2mm 45° Cristal ATR - 80 x 10 x 4mm 45° Cristal ATR

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.