Spectromètre EDXRF EDX-8100

à fluorescence X à dispersion d'énergieXRFpour l'industrie des semi-conducteurs

Présentation
L'EDX-8100 est un spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) conçu pour l'analyse élémentaire de routine et avancée des solides, poudres, liquides et films minces. Il associe une large chambre d'échantillons à un encombrement réduit et accepte la mesure sous vide ainsi que la purge à l'hélium pour améliorer la détection des éléments légers en phase liquide.

Fonctionnalités

• Applications
  • Analyse de matériaux électriques et électroniques, dépistage RoHS et halogènes
  • Analyse de films minces pour semi‑conducteurs, disques, cristaux liquides et cellules solaires
• Conception fonctionnelle
  • Grande chambre d'échantillons tout en réduisant la largeur installée (environ 20 % de moins que le modèle précédent)
• Logiciel PCEDX Navi
  • Interface graphique avec flux de travail simplifiés pour les débutants et options avancées pour les analystes expérimentés
• Capacités analytiques
  • Détecteur Silicon Drift (SDD) et matériel optimisé pour sensibilité élevée, analyses rapides et meilleure résolution énergétique
  • Prise en charge de l'analyse d'éléments légers, sensibilité améliorée pour les liquides via purge à l'hélium
• Flexibilité d'échantillonnage
  • Accepte des échantillons de petite à grande taille, poudres, liquides et films minces
  • Options : unité de mesure sous vide et unité de purge à l'hélium
• Fonctions de quantification
  • Méthode de courbe d'étalonnage et outils complets de quantification pour analyses courantes et spécialisées

Vidéos (exemples)

• Série EDX-7000/8000 — démonstration des capacités et applications typiques
• Analyse de pierres précieuses naturelles vs imitation — exemple d'analyse d'éléments légers avec EDX-8000/8100

Caractéristiques / spécifications techniques

• Type d'instrument : spectromètre EDXRF de paillasse
• Modèle : EDX-8100
• Détecteur : Silicon Drift Detector (SDD)
• Source X : tube Rh ; plage de tension typique 4 kV – 50 kV
• Refroidissement : refroidissement par air (sans azote liquide)
• Plage de mesure : éléments légers à uranium (selon modèle)
• Options : unité de purge à l'hélium, unité de mesure sous vide, kit de dépistage RoHS, chargeur automatique d'échantillons
• Manipulation des échantillons : grande chambre ; prise en charge de poudres, liquides, films minces et solides de tailles variées
• Logiciel : PCEDX Navi pour exploitation simplifiée et fonctions d'analyse avancées
• Quantification : méthode de courbe d'étalonnage, options par paramètres fondamentaux et autres fonctions de quantitation
• Dimensions (env.) : 46 cm x 59 cm x 36 cm ; Poids (env.) : 45 kg