Analyseur d'argon DF-750 ULTRA

d'azoted'héliumd'oxygène

Le DF-750 ULTRA est le premier choix pour l'analyse de l'humidité dans l'industrie des semi-conducteurs Le DF-750 ULTRA est un analyseur de trace/ultra-trace optimisé pour fournir les meilleures mesures d'humidité dans les gaz ultra-haute pureté (UHP) utilisés dans les usines de semi-conducteurs de 300 mm. Mesures de trace/ultra-trace TDL à haute stabilité Une solution sans compromis Grande fiabilité Conçu spécifiquement pour effectuer des mesures d'humidité à l'état de trace et d'ultra-trace dans une gamme de gaz UHP, le DF-750 ULTRA est optimisé pour les fabs de semi-conducteurs de 300 mm. Il mesure l'humidité en tant que contaminant dans les gaz de qualité électronique : azote, hydrogène, hélium, argon et oxygène. La technologie de détection TDL (Tunable Diode Laser) offre une limite de détection inférieure (LDL) de 55 parties par billion (ppt), ce qui garantit que les mesures stables et très précises du DF-750 ULTRA répondent aux besoins de contrôle précis de la production de semi-conducteurs. Le DF-750 ULTRA, robuste, nécessite peu de maintenance pendant toute sa durée de vie et offre une stabilité sans dérive, ce qui prolonge considérablement les intervalles d'étalonnage. Ce faible coût d'acquisition, associé à des performances de mesure exceptionnelles, fait du DF-750 ULTRA la solution analytique de premier choix pour les contrôles de qualité des gaz UHP. Le DF-750 ULTRA est conçu pour répondre aux normes exceptionnelles de pureté des gaz exigées par les fabricants de semi-conducteurs du monde entier. Utilisant la technologie de détection TDL de pointe, logée dans une cellule Herriot robuste et résistante, le DF-750 ULTRA évite le contact de l'humidité avec les composants de détection optique. Le résultat est un analyseur qui fournit une mesure ultra-sensible,