Le S wide est un système conçu pour mesurer rapidement de grandes surfaces d'échantillons jusqu'à 300 x 300 mm. Il offre tous les avantages d'un microscope numérique intégré dans un instrument de mesure à haute résolution. Extrêmement facile à utiliser avec un seul bouton à acquérir.
Système de métrologie optique 3D à large gamme.
- Fabrication avancée
- Archéologie et Paléontologie
- Électronique grand public
- Équipement médical
- Moules
- Optique
- Industrie horlogère
Répétabilité de la hauteur submicronique dans toute la zone d'extension
Mesure de hauteur en une seule fois jusqu'à 40 mm sans Z-scan
Objectifs bi-télécentriques à très faible distorsion de champ pour une métrologie précise
Déviation de forme des modèles CAO 3D fournissant une mesure de la différence géométrique et de la tolérance
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.
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