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Appareil de mesure par diffraction de rayons X AutoMATE II

appareil de mesure par diffraction de rayons X
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Caractéristiques

Technologie
par diffraction de rayons X

Description

La contrainte résiduelle peut être créée pendant le processus de fabrication d'un matériel, ou elle peut s'accumuler dans une structure sur beaucoup d'années en fonction. Dans l'un ou l'autre de cas, cet effort peut exercer un effet négatif sérieux sur une qualité, la longévité et la vie du produit. La détection précise de la contrainte résiduelle est un élément important du processus et des aides de contrôle de qualité prévoir la vie de service des produits. Dans le passé, si vous vouliez faire des mesures fortement précises de contrainte résiduelle, vous avez dû employer un diffractometer de R&D en raison de l'exactitude du goniomètre. Cependant ceci limite le poids et la taille des échantillons que vous pouvez mesurer. D'autre part, le laboratoire consacré et les analyseurs de contrainte résiduelle d'usine-plancher souffrent de l'exactitude réduite due à la nature de leurs conceptions mécaniques, alors que, en leur faveur, ils ont la flexibilité de grandes et lourdes pièces de mesure. Avec automatisez II, vous ont maintenant le meilleur des deux mondes. Grandes et lourdes pièces (30 kilogrammes avec l'étape manuelle standard de Z ; 20 kilogrammes avec l'étape automatisée facultative de XYZ) peuvent être mesurés avec de grande précision. La source de rayon X et le bras de détecteur sont montés sur un goniomètre biaxial fortement précis qui peut les placer relativement au site de mesure et exécuter des balayages avec des étapes minimum de 0,1 microns en utilisant l'étape automatisée de XYZ. La source de rayon X et le bras de détecteur sont montés sur un goniomètre biaxial fortement précis qui peut les placer relativement au site de mesure et exécuter des balayages avec des étapes minimum de 0,1 microns en utilisant l'étape automatisée de XYZ.

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ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 juin 2024 Frankfurt am Main (Allemagne)

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