Microscope à rayons X SEM-Raman

pour analysein-situde paillasse

SEM-Raman vous offre une caractérisation complète des échantillons in situ dans un seul système. Redéfinissez la commodité, l'efficacité et la productivité en combinant ces deux technologies. L'interface d'analyseur structurel et chimique (SCA) de Renishaw apporte les capacités de mesure et de cartographie des points des microscopes Raman inVia™ aux microscopes électroniques à balayage (MEB). Raman + MEB Le microscope inVia et l'interface SCA fournissent une technique d'analyse in-SEM qui complète la spectroscopie Raman au microscope optique et surmonte les limites de la spectroscopie à rayons X à dispersion d'énergie (EDS), la technique d'analyse in-SEM traditionnelle. Avec le système SEM-Raman de Renishaw, vous bénéficiez d'une analyse morphologique, élémentaire, chimique, physique et électronique colocalisée. Utilisez le MEB pour générer des images haute résolution de votre échantillon et effectuer une analyse élémentaire. Ajoutez la puissance du Raman pour obtenir des informations et des images chimiques. Identifiez les matériaux et les non-métaux, même s'ils ont la même stœchiométrie. Le SCA et inVia sont entièrement compatibles non seulement avec le Raman mais aussi avec les spectroscopies de photoluminescence (PL) et de cathodoluminescence (CL). Analyse par rayons X des dépôts alluviaux Analyse par rayons X des dépôts alluviaux Un seul système combiné pour l'analyse au même endroit Avec un seul système combiné, vous gagnez un temps précieux. Vous n'avez pas à déplacer vos échantillons entre deux instruments et à risquer d'analyser la mauvaise région de l'échantillon. Le microscope inVia et le MEB peuvent être utilisés comme des systèmes autonomes, en même temps, sans compromettre les performances de l'un ou l'autre. Vous disposez d'un système Raman, d'un système SEM et d'un système combiné Raman-SEM.