OSTEC fournit la conception modulaire des systèmes NIOS qui permet aux utilisateurs finaux de configurer un testeur nanomécanique spécifiquement pour leurs besoins et exigences. Les configurations du testeur nanomécanique du NIOS peuvent se composer des modules suivants :
- Nanoindenteur à large gamme
- Microscope optique
- Microscope à force atomique
- Testeur nanomécanique à balayage
- Mesure des propriétés électriques
- Capteur de force latérale
- Imagerie topographique in-situ
- Étape de chauffage
- Profileur optique confocal
NIOS Compact est conçu pour la recherche sur les propriétés mécaniques de la surface de petits échantillons. Cet appareil utilise les méthodes de la microscopie à sonde à balayage, de l'indentation instrumentée et de la rayure avec une plage de charge allant jusqu'à 100 mN. Ce modèle est destiné à l'étude des propriétés physiques et mécaniques à l'échelle dimensionnelle linéaire submicronique et nanométrique
Toutes les mesures du NIOS sont effectuées dans un environnement ouvert (c'est-à-dire sans recours à un vide spécial ou à un traitement thermique). Les instruments NIOS sont conçus avec des caractéristiques et des fonctionnalités qui permettent de les utiliser pour la recherche et les applications industrielles.
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