Appareil de mesure d'angle de contact SURFTENS HL

de processpour l'industrie des semi-conducteurs

HL de SURFTENS - gaufrette professionnelle examinant en technologie des semiconducteurs Le mètre SURFTENSHL d'angle de contact est conçu pour l'usage dans l'industrie et la recherche de semi-conducteur, en particulier pour à régulation de processus du revêtement de gaufrette et dans le processus photolithographique. Il est caractérisé par les caractéristiques suivantes : mesure rapide et facile d'angle de contact, construction qui fait gagner de la place construction spéciale de table pour la cartographie rapide de la distribution d'angle de contact sur la gaufrette logiciel avec l'opération intuitive documentation confortable des résultats de mesure dans les protocoles et dans les images vidéo, s'il y a lieu calcul d'énergie extérieure libre par la théorie de Wu/de TRAVAIL utilisation facultative avec l'ordinateur portable ou le PC HL de SURFTENS - applications La modification du comportement de mouillure des gaufrettes de silicium est une étape de processus standard en technologie des semiconducteurs. Pour la caractérisation de processus, l'ajustement des paramètres technologiques et le contrôle de production. Il est donc absolument nécessaire, pour mesurer l'angle de contact et l'énergie libre extérieure objectivement et exactement avant et après le procédé de modification. À cet effet un instrument de mesure robuste et facile à utiliser d'angle de contact est nécessaire. SURFTENSHL a été développé pour répondre aux besoins en technologie des semiconducteurs et la recherche l'opération est simple et pour tout le monde possible après une formation courte. L'opération manuelle assure un prix intéressant. SURFTENSHL est employé ainsi aussi bien que dans à régulation de processus standard aussi bien que dans la recherche et développement.