AperçuLe micromètre optique OptiMike réalise une mesure d'épaisseur directe, unilatérale et sans contact pour produits en feuilles non métalliques et films épais en ligne. La technique optique est insensible à la couleur, la densité, la brillance ou la transparence. Une matrice LED projette un faisceau sur l'apex du produit posé sur un rouleau de référence de précision à faible ovalisation ; un réseau micrométrique CCD détecte le point d'interruption (surface supérieure) avec une résolution submicronique. Un capteur à courants de Foucault intégré mesure la distance capteur–rouleau et les mesures sont fusionnées pour fournir l'épaisseur totale en temps réel.
Caractéristiques principales- Mesure sans contact, monolatérale, adaptée aux applications en ligne sur nappe
- Technologie non nucléaire (sans source radioactive)
- Insensible à la couleur, densité, brillance ou transparence du produit
- Possibilité d'association avec capteur de poids pour calcul de densité
- Conception facilitant la maintenance et l'intégration en ligne
Principe de mesureLe capteur utilise une matrice LED pour projeter un faisceau sur le sommet du produit placé sur un rouleau de référence précis. Un micromètre CCD de haute précision, positionné en face, repère le bord d'ombre pour déterminer la position de la surface supérieure avec une précision submicronique. Le capteur à courants de Foucault intégré mesure la distance au rouleau de référence ; le système combine CCD et courants de Foucault pour délivrer l'épaisseur absolue en continu pour le contrôle de procédé.
Applications- Extrusion de films et feuilles
- Production de feuilles en mousse
- Conversion caoutchouc et plastique
- Feuilles calandrées et revêtements
- Non-tissés et textiles techniques
- Matériaux pour fermetures auto-agrippantes
- Composites et stratifiés
- Contrôle de nappe pour produits du tabac
Caractéristiques / spécifications techniques- Méthode de mesure : optique (matrice LED + micromètre CCD) combinée à une référence par courants de Foucault
- Type de mesure : mesure directe, unilatérale, en ligne pour procédés sur nappe
- Matériaux compatibles : feuilles non métalliques, films, mousses, non-tissés, composites
- Résolution : détection de surface supérieure submicronique (CCD)
- Élément de référence : rouleau de précision à faible ovalisation
- Intégration : compatible avec capteurs de poids et systèmes de contrôle de procédé
- Type de jauge : micromètre optique non-contact, non nucléaire