machine d'inspection à rayons X / pour tomographie numérique
XT H 225 ST

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Caractéristiques

  • Technologie:

    à rayons X, pour tomographie numérique

Description

Le XT H 225 ST est un système de Tomographie Numérique convenant idéalement à une grande variété de matériaux et de tailles d’échantillon, et plus spécialement aux échantillons trop grands et trop lourds pour les autres systèmes de la gamme.

Le système possède trois sources interchangeables : la cible à réflexion 225 kV, la cible à transmisson 180 kV et la cible rotative 225 kV. Combiné à une grande variété de détecteurs à écran plat, parmi lesquels il suffit de choisir, le système ST se propose comme un outil flexible pour les laboratoires qualité, la production et les départements de recherche.

Avantages
Source brevetée micro-focus de rayons X 225kV avec taille de spot rayons X 3µm
Facile d’utilisation
Images internes stupéfiante
Acquisition très performante des images et excellent traitement du volume
Automatisation très directe de l’inspection
Priorité à la sécurité
Faible coût total de possession