Mesureur d'épaisseur à réflectance spectrale SR710S

stationnairede revêtementde métal

Mesure des couches minces sur les stratifiés, les métaux et les substrats métallisés Spécifiquement conçu pour mesurer les revêtements organiques minces, clairs ou légèrement pigmentés sur des films d'aluminium ou métallisés, des films imprimés ou des substrats de feuilles. - Mesures haute performance - avec une vitesse de mesure de 7,5 millisecondes (jusqu'à 10 fois plus rapide que les autres jauges IR), le SR710S offre des performances de mesure haute vitesse avec une précision permettant d'obtenir des mesures robustes et fiables sur une toile en mouvement rapide - Performances éprouvées dans n'importe quel environnement - non affectées par les changements de processus et de conditions ambiantes tels que les fluctuations d'éclairage, la température, l'humidité relative, la qualité de l'air (poussière, évaporation, contenu, etc.), le flottement de la bande et les variations de substrat d'un lot à l'autre - Technologie non nucléaire - ne nécessite pas d'autorisation spéciale ou de gardes de protection - Contrôle total et visibilité du processus - lorsque le SR710S est installé sur les scanners haute performance de NDC et intégré dans un système de mesure de la toile NDC TDi, cette plateforme offre les meilleures performances de profilage de la toile du secteur pour une qualité et une productivité supérieures - Assistance de premier plan - tous les systèmes sont soutenus par l'organisation mondiale de service à la clientèle de NDC, disponible 24 heures sur 24 et 7 jours sur 7 via le service en nuage myNDC