Diffractomètre XRD Wafer XRD 200

de laboratoire

Rapide, précis et entièrement équipé : notre solution pour le contrôle des extrémités de gaufrettes Wafer XRD 200 est un système automatisé ultra-rapide et de haute précision pour le tri des wafers en fonction de l'orientation des cristaux et des paramètres géométriques des wafers, avec une multitude d'options supplémentaires Wafer XRD 200 est votre plate-forme de diffraction des rayons X à grande vitesse entièrement automatisée pour la production de wafers et la recherche comme vous ne l'avez jamais vue auparavant. Wafer XRD 200 fournit des données clés sur une variété de paramètres essentiels tels que l'orientation et la résistivité des cristaux, les caractéristiques géométriques telles que les encoches et les méplats, les mesures de distance, et bien plus encore - en quelques secondes seulement. Conçu pour s'intégrer parfaitement à votre chaîne de traitement. Caractéristiques et avantages Précision ultra-rapide grâce à une technologie de balayage exclusive La méthode ne nécessite qu'une seule rotation de la plaquette pour recueillir toutes les données nécessaires à la détermination complète de l'orientation, ce qui permet d'obtenir une grande précision avec un temps de mesure très court, de l'ordre de quelques secondes. Manipulation et tri entièrement automatisés Le Wafer XRD 200 est conçu pour optimiser votre débit et votre productivité. L'automatisation complète de la manipulation et du tri et les outils de transmission de données détaillés en font un élément puissant et efficace de votre processus de contrôle qualité. Connectivité facile La puissante automatisation du Wafer XRD 200 est compatible avec les interfaces MES et SECS/GEM. Il s'intègre facilement dans votre processus nouveau ou existant.