Mesure simple de la rugosité et de l'ondulation
L'appareil idéal pour découvrir à un prix abordable le confort apporté par la métrologie des états de surface.
Basé sur PC, l'appareil fournit tous les paramètres et profils courants selon les normes internationales, que ce soit en salle de mesure ou en production.
Dans la gamme Mahr, MarSurf XR 1 représente l'avenir en matière du système d'analyse des états de surface.
• Plus de 80 paramètres pour les profils R, P et W selon
la normalisation actuelle ISO/JIS ou MOTIF (ISO 12085)
• Filtre passe-bande Ls conforme à la norme sélectionnée,
Ls peut être désactivé ou réglé librement
• Création de rapports détaillés
• Création rapide de programmes de mesure Quick&Easy
en mode apprentissage
• Fonction automatique de sélection normalisée
des filtres et de la longueur d'exploration
• Prise en charge de différentes méthodes de calibrage
(statique/dynamique) avec préréglage du
paramètre Ra ou Rz
• Intervalles de maintenance et de calibrage réglables
• De nombreuses configurations des postes de mesure pour les différentes applications
• Flexibilité du système grâce à différentes options
• Les différents niveaux d’accès utilisateur protègent contre les erreurs de manipulation
de l'appareil et assurent qu'aucun
utilisateur non autorisé n'utilise l'appareil.
• Connexion simultanée de différentes unités d'avance
ou dispositifs à un MarSurf XR1